Hệ thống thao tác nano siêu lạnh OmniProbe Cryo
Tùy chọn cryo lift-out Oxford Instruments OmniProbe mở rộng khả năng tách mẫu cho các mẫu lạnh đông, bao gồm cả các mẫu được chuẩn bị bằng phương pháp đông lạnh áp suất cao.
Kỹ thuật Cryo-FIB lift-out có thể thực hiện trên các mẫu được làm lạnh xuống đến -180°C nhờ hệ thống cryo của bên thứ ba. Điều này cho phép phân tích nano trên nhiều loại mẫu mới trong nhiều ngành công nghiệp bằng các thiết bị cryo-TEM hoặc cryo-atom probe.
Tùy chọn cryo lift-out bao gồm cụm trục đầu đo được thiết kế riêng với đầu đo cách nhiệt, được làm lạnh thụ động thông qua kết nối trực tiếp với ngón lạnh của hệ thống cryo. Đi kèm là giấy phép không độc quyền để sử dụng phương pháp gắn băng độc quyền của Oxford Instruments.
Tùy chọn cryo lift-out tương thích với hệ thống OmniProbe 350 và có thể nâng cấp/lắp đặt trực tiếp tại cơ sở.
Hầu hết các loại pin hiện nay đều sử dụng chất điện phân hữu cơ, và giao diện giữa các cực với chất điện phân có vai trò quyết định đến nhiều khía cạnh hiệu suất của pin. Nhiều quá trình diễn ra tại các giao diện này vẫn chưa được hiểu rõ do hạn chế về khả năng nghiên cứu trực tiếp ở độ phân giải cao. Bằng cách kết hợp cryo lift-out với cryo-TEM/STEM, lần đầu tiên người ta có thể chụp ảnh độ phân giải rất cao tại các giao diện lỏng - rắn này.
Mặc dù có thể sử dụng gá giữ mẫu dạng tế bào chất lỏng cho chụp ảnh TEM, nhưng chúng bị hạn chế bởi kích thước mẫu và loại chất lỏng có thể sử dụng. Các chất lỏng có độ nhớt cao hơn như chất điện phân hữu cơ làm cho các màng mỏng của tế bào chất lỏng bị phồng ra, dẫn đến giảm độ phân giải do hiệu ứng tán xạ và sự mở rộng chùm tia.
Với cryo lift-out, người ta thu được ảnh độ phân giải rất cao của pin bằng cách đông lạnh chúng, tách mặt cắt ngang từ giao diện lỏng - rắn bằng cryo-FIB lift-out, và làm mỏng bằng FIB xuống độ dày <100nm để nghiên cứu giao diện ở độ phân giải cao.
Tính năng
- Mở rộng cơ hội nghiên cứu
○ Đạt được dữ liệu chất lượng cao trên các mẫu trước đây khó hoặc không thể phân tích ở độ phân giải cao
- Các vật liệu thường phản ứng với ion Ga+ hoặc nhạy cảm với nhiệt
- Các mẫu chứa nước và các mẫu có giao diện lỏng - rắn
- Pin, vật liệu cấy ghép sinh học, hydrogel
- Bất kỳ mẫu nào quá lớn đối với phương pháp đông lạnh nhúng
- Thu được hình ảnh và kết quả vượt trội
○ Cải thiện chất lượng dữ liệu bằng cách giảm các biến dạng/vết nhân tạo do Ga+ FIB gây ra
- Tránh các phản ứng hóa học (ví dụ: vật liệu bán dẫn bán dẫn nhóm III-V)
- Tránh các ảnh hưởng do nhiệt độ (ví dụ: polymer)
- Cải thiện độ chính xác và khả năng tái tạo dữ liệu dựng hình cắt lớp
○ Bảo toàn cấu trúc siêu vi tốt hơn nhờ tránh được sự nén mẫu do máy cắt siêu mỏng Cryo gây ra
○ Đạt được kết quả chất lượng cao từ phân tích TEM và atom probe đối với các tế bào và mô kích thước lớn
