Hệ thống cắt mẫu bằng chùm Ion EM TIC 3X

Tạo ra các bề mặt phay chất lượng cao bằng cách sử dụng ba chùm tia rộng, giúp để lộ cấu trúc thực của mẫu phục vụ cho việc phân tích bằng kính hiển vi điện tử ở các bước sau. Với khả năng thích ứng và linh hoạt, EM TIC 3X hỗ trợ đa dạng các loại thí nghiệm nhờ các bàn sa trượt dễ dàng thay đổi và khả năng tương thích với nhiều loại giá đỡ mẫu khác nhau.