Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Kính hiển vi điện tử quét SU1510 Giá liên hệ

!Dòng sản phẩm đã ngừng sản xuất

SU1510 là VP SEM buồng mẫu cỡ trung với các tính năng và hiệu suất như các mẫu S3700N và S3400N. Súng bắn điện tử với thế hãm phần tư nâng cao hiệu suất ở thế gia tốc thấp và tăng dòng chùm tia thích hợp với các đầu dò X-ray SDD hiện đại. 2 cổng gắn đầu dò EDS lệch nhau 180° cho phép phân tích đồng thời và triệt tiêu đổ bóng bản đồ X-ray phù hợp với các bề mặt mẫu thô. Bơm TMP tốc độ cao, sạch, hiệu quả giúp loại bỏ việc làm mát bằng nước.
Nhỏ gọn, chất lượng cao và dễ sử dụng là những đặc điểm giúp SU1510 trở thành VPSEM đa chức năng cho mọi phòng thí nghiệm nâng cao.

Kính hiển vi điện tử quét S-3400N Giá liên hệ
SEM đa áp suất S3400N mới của Hitachi được phát triển trên việc cải tiến thiết kế của VP SEM S3000N - mẫu đã được sử dụng rộng rãi trên thị trường thế giới. Cho phép nghiên cứu các mẫu ướt, dầu hoặc/và không dẫn điện mà không cần phủ hay các kĩ thuật chuẩn bị mẫu phức tạp khác.
Các chức năng phần mềm và phần cứng mới được phát triển việc lắng nghe khác hàng để cho ra sản phẩn với chất lượng ảnh tốt hơn, kích thước mẫu lớn hơn, dễ dàng phân tích, nhanh hơn và dễ dàng sử dụng.
Hệ quang điện tử tốt hơn, buồng mẫu lớn hơn, hệ chân không sạch và nhanh hơn, cùng phần mềm tự động hoạt toàn chỉ là một vài tính năng mới của S3400N. Nhờ thiết ké hệ chân không TMP mới, hệ thống không cần tới nước làm mát. Thời gian đổi mẫu không tới 100s và chưa tới 6 phút đễ sẵn sàng làm việc từ lúc khởi động. Tiêu tốn năng lượng chỉ 2kVA.S3400N sẽ là tiêu chuẩn thế giới mới cho dòng SEM đa áp suất tầm trung.

Kính hiển vi điện tử quét S-3700N Giá liên hệ Kính hiển vi điện tử quét (SEM) hiện nay đã được sử dụng rộng rãi, không chỉ trong các viện nghiên cứu, mà còn trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau. Tương ứng với điều này, mẫu cần quan sát và phân tích cũng đa dạng từ các ứng dụng khác nhau. S3700N được phát triển để thỏa mãn sự đa dạng này. Với cấu hình tiêu chuẩn, hệ thống đi kèm đầu dò SE, đầu dò BSE 5 vùng cùng chế độ đa áp suất (VP.)

Điều đó cho phép quan sát tất cả các mẫu ở trạng thái tự nhiên của chúng, hay trạng thái ướt mà không cần phải phủ mẫu như trước đây trên các SEM thông thường. S3700N có buồng mẫu lớn có thể quan sát được mẫu có đường kính lên tới 300mm và cao tới 100mm. Hệ thống cũng có nhiều cổng chờ phụ kiện cho nhiều ứng dụng ngày nay. Các phụ kiện này bao gồm EDX, WDX, EBSD, chamber scope, đế lạnh và nhiều thứ khác nữa. Hệ thống đa năng và linh hoạt này có thể đáp ứng các yêu cầu sau này của bạn.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi MI4050 Giá liên hệ MI4050 là hệ thống Hiển vi chùm ion hội tụ hiệu suất cao của Hitachi. Được trang bị hệ quang học thế hệ mới, MI4050 cho độ phân giải hiển vi SIM hàng đầu thế giới và chuẩn bị mẫu hiển vi TEM độ nét cao nhờ cải tiến độ phân giải ảnh ở thế gia tốc thấp.

MI4050 có thể đáp ứng yêu cầu của nhiều ứng dụng khác nhau như quan sát mặt cắt, chỉnh sửa mạch, tạo hình nano-micro, tạo khuôn nano, chế tạo cơ cấu 3D nano sử dụng chức năng phủ, v.v.

FIB-SEM Hybrid System XVision 200 Giá liên hệ FIB-SEM hybrid system equipped with Hitachi High-Tech Science's latest FIB column and high performance FE-SEM, and FIB-SEM-Ar Triple Beam system equipped with ultra low kV Ar column which can handle the small sample to 200 mm wafer deliver such as high quality TEM sample preparation, Cut&See realtime high resolution obervation and 3D analysis, and EDS analysis.

FIB-SEM Hybrid System XVision 300 Giá liên hệ 1. High Quality TEM Lamella Preparation:
Combination of low acceleration voltage FIB and Ar ion beam enables high quality TEM lamella prepatation

2. Real-time Monitoring
Real-time image monitoring at high magnification during Ga ion beam processing is possible with SEM.

3. High Throughput
High throughput cross-sectioning and TEM lamella preparation with high current FIB is possible.

4. Continuous TEM Lamella Auto-finishing Software
"Continuous A-TEM" a continuous TEM lammela finishing software is installed, enabling automatic creation of TEM lamella.

3D analysis holder Giá liên hệ This is a sample rotation holder commonly usable for FIB and STEM in order to observe a micro-sample processed in the shape of a pillar with an FIB system. It is effectively usable for 3-dimensional structural evaluation of electronic devices under miniaturization and for stereoscopic failure analysis.

Micro-sampling system Giá liên hệ Enables high-throughput analysis

A micro-sampling method (patented in Japan and the U.S.) was developed as a tool for analyzing semiconductor devices which are moving rapidly toward smaller scales. It takes about 1 hour from picking up a micro-sample to analyzing it by STEM. The position accuracy is under 0.1 µm.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000 Giá liên hệ Hệ thống Hiển vi Chùm ion hội tụ & Điện tử quét (FIB-SEM) của Hitachi cho phép phân tích cỡ nano các thiết bị vi mô và vật liệu chức năng với hiệu suất cao chưa từng có.

Hiệu suất và độ tin cậy vượt trội của Hitachi bên trong một hệ thống tích hợp (Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB) và Hiển vi Điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) hiệu suất siêu cao) cho phép chuẩn bị mẫu năng suất cao, chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích cũng như thiết kế và chế tạo các cấu trúc nano chính xác. Các kỹ thuật chế tạo mới cũng đã được phát triển cho các loại vật liệu nhạy cảm với bức xạ điện tử. Các cải tiến trong quy trình nạp mẫu, thăm dò mẫu và kỹ thuật Micro-sampling*1 giúp tăng hiệu suất phân tích.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200 Giá liên hệ Sản phẩm thế hệ mới cho năng suất, chất lượng và độ chính xác cao hơn.
Có thể sử dụng để chuẩn bị mẫu hiển vi cho TEM nhờ khả năng đánh bóng ion diện tích lớn.

Phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X – SwiftED3000 Giá liên hệ Có thể dò được các phần tử nhẹ từ Boron trở đi
Có thể phân tích ở chế độ: Linescan, Mapping và phân tích đa điểm
Không dùng LN2. Phân tích nhanh và dễ dàng, kết quả phân tích đạt được trong vài phút.

Đầu thu phổ tán xạ năng lượng tia X – Quantax70 Giá liên hệ Dải nguyên tố có thể phát hiện: B5 ~ Am95
Có thể phân tích ở chế độ: Linescan, Mapping và phân tích đa điểm
Không dùng LN2. Phân tích nhanh và dễ dàng, kết quả phân tích đạt được trong vài phút.

Kính hiển vi điện tử quét SU3500 Giá liên hệ
Kính hiển vi điện tử quét SU3500 hoàn toàn mới tích hợp hệ thống thu tín hiệu và hệ quang điện tử cải tiến, sáng tạo cho phép tạo ảnh không song song và phân tích hiệu quả. Được thiết kế với tư duy trực quan, giao diện người sử dụng mới thân thiện cung cấp toàn diện các chức năng hiển thị và quan sát ảnh. Được thiết kế để sử dụng với nhiều mục đích khác nhau, bao gồm các mẫu sinh học và vật liệu tiên tiến, SU3500 là thiết bị mạnh mẽ trong mọi phòng thí nghiệm.

Kính hiển vi điện tử quét cho phân tích SU-70 Giá liên hệ

!Dòng sản phẩm đã ngừng sản xuất

The Hitachi SU-70 Analytical Field Emission SEM combines the field proven stability, high current and brightness of the Schottky electron source with ultra high resolution required for a multitude of analytical applications. Designed with a semi-in-lens optical configuration, Hitachi's patented ExB technology provides a unique electron signal filtering and mixing system suited for today' s demanding applications for research and development and multidiscipline studies.
A large specimen stage and analytical chamber accommodate a wide variety of analytical instrumentation such as EDS*, WDS*, EBSP*, CL*, STEM, and e-Beam Lithography techniques optimized for simultaneous analysis.
The SU-70 Analytical FESEM continues the tradition of industry leading technology with the quality and reliability of Hitachi products and services recognized throughout the industry.

*Option

Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải siêu cao SU8010 Giá liên hệ

Các công cụ công nghệ nano chẳng hạn như: chất bán dẫn, điện tử, xúc tác và các vật liệu chức năng khác, công nghệ sinh học và dược phẩm,... đang được nghiên cứu trên toàn thế giới như là năng lực nòng cốt của các thế hệ công nghệ tiên tiến tiếp theo. FE-SEM độ phân giải cao đã trở thành công cụ không thể thiếu để quan sát cấu trúc bề mặt của vật liệu trong hầu hết các lĩnh vực công nghệ nano.
Hitachi High-Tech đã phát minh dòng sản phẩm mới là SU8010 đáp ứng nhu cầu thị trường đang cần.
Dòng sản phẩm mới SU8000 Series cho ảnh độ phân giải cực cao, và cung cấp bệ mẫu, buồng mẫu và hệ thống đầu dò đa dạng đáp ứng nhiều nhu cầu của khách hàng cần kính hiển vi độ phân giải cao.

Kính hiển vi điện tử quét phân giải siêu cao SU8200 Series Giá liên hệ

Đầu phát điện tử CFE sử dụng kỹ thuật độc quyền "Mild flashing" của Hitachi và hệ thống chân không mới giúp giảm thiểu các phân tử khí hấp thụ trên đầu Tip . Do đó Tip luôn hoạt đầu ở trạng thái sạch, dòng phát và chùm tia được cải thiện đáng kể. Kết quả nguồn electron của máy SEM đạt được ổn định và hiệu suất và độ phân giải cao ở thế gia tốc thấp. Ngoài ra, còn giúp cho phân tích mẫu với thế gia tốc thấp được thuận lợi.

Tính năng mới của hệ thống SU8200 gồm có đầu dò TOP tích hợp bộ lọc giúp tăng cường phát hiện các điện tử đặc biệt. Độ tương phản khác nhau đạt được bằng cách chọn lọc các electron tán xạ không đàn hồi và dò trực tiếp các electron tán xạ ngược với năng lượng được xác định.
Bộ lọc đặc biệt này có hiệu suất cao để gia tăng độ tương phản của vật liệu tại thế gia tốc thấp. Đo lường kiểm tra giao động cho bàn mẫu và buồng mẫu, tối ưu hóa hệ thống quan học để đạt được hệ thống với độ phân giải cao 0.8 nm tại 15 kV và 1.1 nm tại 1 kV.

Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải siêu cao SU9000 Giá liên hệ Đưa công nghệ tiên tiến của SEM lên hàng đầu

Những tiến bộ trong công nghiệp bán dẫn đang diễn ra với một tốc độ chóng mặt và đẩy thiết kế và sai số sản xuất đến đến giới hạn nano.
Những kỹ thuật này đòi hỏi sự quan sát trực tiếp của các cấu trúc bề mặt của vật liệu tại kích thước nano.
Hitachi có hồ sơ theo dõi đã được kiểm chứng để cung cấp những thiết bị tiên tiến nhất, đáng tin cậy và đáp ứng những yêu cầu tạo ảnh khắt khe nhất trong ngành công nghiệp bán dẫn.
Hiện tại Hitachi giới thiệu một dòng sản phẩm mới với công nghệ đầu phát điện tử CFE được cải tiến, giảm thiểu hơn nữa mức độ quang sai ngang vốn đã thấp trong các công nghệ hiện tại của Hitachi. Công nghệ CFE Gun giúp SU9000 đạt được độ phân giải SEM cao nhất trên thế giới. (0.4nm tại 30kV) Các hiệu ứng quang sai giảm làm cho độ phân giải cao, có thể quan sát tại thế gia tốc thấp cho các mẫu có độ nhạy chùm tia mà không cần công nghệ giảm tốc. (1.2nm tại 1kV)
SU9000 cũng có tính năng STEM (tùy chọn) đảm bảo độ phân giải 0.34nm và đã được kiểm chứng qua hình ảnh của lưới graphite ((002) d = 0.34nm).Hitachi đang đem đến hiệu suất cơ bản vượt trội như hoạt động ổn định, năng suất và độ phân giải cao để đi đầu trong lĩnh vực công nghệ.


*1：Độ phân giải cao nhất toàn thế giới là đặc điểm của SU9000
*2：Điều kiện thế gia tốc 30kV, đã được thực hiện vào tháng 4 năm 2011

Kính hiển vi điện tử truyền qua HT7700 Giá liên hệ
HT7700 được trang bị hệ thống thu ảnh độ tương phản siêu cao, chất lượng hình ảnh với độ phân giải cao kết hợp chức năng phân tích cho các ứng dụng trong dược phẩm, công nghiệp thực phẩm, nông nghiệp, polymer, hóa học và vật liệu nano.

Kính hiển vi điện tử quét/truyền qua HD 2700 Giá liên hệ Tạo ảnh độ phân giải cao hiệu chỉnh Cs & phân tích độ nhạy cao với năng suất vượt trội

Trong các lĩnh vực khác nhau từ R&D đến kiểm tra chất lượng của vật liệu tiến tiến nano và thiết bị bán dẫn, thì nhu cầu cần phải cải thiện độ phân giải không gian và hiệu suất phân tích cho kính hiển vi điện tử đang ngày càng gia tăng trong những năm gần đây. Hiệu chỉnh quang sai cung cấp một giải pháp ưu việt cho những nhu cầu đó. Hitachi High Technologies trước đây đã thương mại hóa kính hiển vi điện tử với khả năng hiệu chỉnh quang sai cầu, từ đó tiếp tục theo đuổi khái niệm về cung cấp cả năng suất cao và hiệu suất cao có được từ sự hiệu chỉnh quang sai. Dòng STEM HD-2700 với bộ hiệu chỉnh quang sai mới được phát triển của Hitachi đã thành công trong việc hiện thực hóa khái niệm trên.

Kính hiển vi điện tử truyền qua H-9500 Giá liên hệ Kính hiển vi điện tử truyền qua 300kV, độ phân giải nguyên tử.

Kính hiển điện tử độ phân giải nguyên tử ngày càng trở nên quan trọng và không thể thiếu được trong nghiên cứu (R&D) bán dẫn và vật liệu tiên tiến, nơi mà công nghệ vi chế tạo đã đi đến mức độ sub-nano. Nhằm đáp ứng nhu cầu cao này, Hitachi High Technologies đã phát triển kính hiển vi điện tử truyền qua H-9500 với hiệu suất cao trong hiển vi điện tử truyền qua độ phân giải cao đã được chứng minh trên hiện trường, cùng với một số các tính năng thân thiện với người dùng độc nhất. Công nghệ kỹ thuật số mới nhất được tích hợp để làm dễ dàng việc thu thập thông tin về các cấu trúc ở mức độ nguyên tử một cách kịp thời.

Kính hiển vi điện tử truyền qua HF-3300 Giá liên hệ “The Cold FE-TEM” với độ phân giải siêu cao ổn định và các khả năng phân tích thế hệ mới!!

Sự kết hợp của nguồn phát điện tử trường lạnh có độ tin cậy cao và thế gia tốc 300kV của Hitachi hiện thực hóa khả năng tạo ảnh có độ phân giải siêu cao và phép phân tích nhạy cao. Độ phân giải không gian EELS*, chùm nhiễu xạ điện tử (diffraction*) nanobeam song song có độ chính xác cao và tạo ảnh SEM/STEM tại chỗ đã mở một con đường mới & độc nhất cho việc phân tích vật liệu độ chính xác cao.



Quan sát SEM/STEM của chất xúc tác Pt/C tại chỗ.

Khi bơm không khí vào vùng mẫu vật, các phản ứng giữa các hạt nano Pt và chất trợ bằng carbon xảy ra, dẫn đến hình thành các lỗ trên bề mặt carbon và các hạt nano chìm xuống (Bên trái: hình ảnh SEM, bên phải là hình ảnh ADF-STEM). Nhiệt độ mẫu: 2000C, áp suất khí trong mẫu 10Pa, tốc độ phát lại: 30x.