Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Giỏ hàng 0

Tổng : 0 đ

Trang chủ >> Thiết bị Phân tích >> Kính hiển vi điện tử (SEM/TEM/STEM) >> Hệ thống chùm ion hội tụ kết hợp hiển vi điện tử quét (FIB/FIB-SEM)

FIB-SEM Hybrid System XVision 200

Model:
Tình trạng: Liên hệ

FIB-SEM hybrid system equipped with Hitachi High-Tech Science's latest FIB column and high performance FE-SEM, and FIB-SEM-Ar Triple Beam system equipped with ultra low kV Ar column which can handle the small sample to 200 mm wafer deliver such as high quality TEM sample preparation, Cut&See realtime high resolution obervation and 3D analysis, and EDS analysis.

Bảo hành: 12 tháng

Giá bán: Liên hệ

Đặt hàng

Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.

Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com Tất cả các ngày trong tuần

Đặc tính nổi bật
Ứng dụng
Nhận xét

	1. XVison series is equipped with three detectors
	In-lense SE detector: for low energy SE EsB (Energy selective Backscattered detector): for selectively detects high energy electrons. E-T detector: for obtaining the 3D SE image as it is located offset in the chamber.

	2. Variety of coordinate linkage function (optional)
	Linkage of OM and SIM image Double Cursor function (Japan Patent No.4634134, US Patent No. 7595488) Linkage of Defect inspection and coordinate Linkage with partial wafer as well as full wafer coordinate •Linkage with CAD navigation system

	3. Multi-Gas Injection System (MGS II) (Optional)
	Variety of gasses can be injected such as for passivation, wiring, insulator, and enhanced etching etc.
	Carbon deposition gas Tungsten deposition gas Platinum deposition gas Insulator deposition gas XeF2 etching gas Organic ething gas

	4. Vacuum Transfer function (Optional)
	Sample on the Vacuum Transfer System in the glove box can be transfered to the XVision200 without breaking vacuum. The processed sample in the XVision can be returned to the glove box without breaking vacuum.