Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : 0 đ

Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000

Model: DUE'T NB5000
Tình trạng: Liên hệ
Hệ thống Hiển vi Chùm ion hội tụ & Điện tử quét (FIB-SEM) của Hitachi cho phép phân tích cỡ nano các thiết bị vi mô và vật liệu chức năng với hiệu suất cao chưa từng có.

Hiệu suất và độ tin cậy vượt trội của Hitachi bên trong một hệ thống tích hợp (Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB) và Hiển vi Điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) hiệu suất siêu cao) cho phép chuẩn bị mẫu năng suất cao, chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích cũng như thiết kế và chế tạo các cấu trúc nano chính xác. Các kỹ thuật chế tạo mới cũng đã được phát triển cho các loại vật liệu nhạy cảm với bức xạ điện tử. Các cải tiến trong quy trình nạp mẫu, thăm dò mẫu và kỹ thuật Micro-sampling*1 giúp tăng hiệu suất phân tích.
Bảo hành: 12 tháng


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com            Tất cả các ngày trong tuần

 

Hiển vi chùm ion hội tụ hiệu suất siêu cao

Hệ quang học Low CsFIB*2 phát ra chùm tia có cường độ không nhỏ hơn 50 nA (@40 kV) trong một kích thước điểm khoảng 1 µm. Cường độ dòng điện cao cho phép đánh bóng diện tích lớn các mẫu đặc biệt, chế tạo các vật liệu có độ cứng cao và chuẩn bị nhiều loại mẫu khác nhau với năng suất cao hơn.

 

Tính năng mới Micro-sampling

Công nghệ độc quyền Micro-sampling của Hitachi với chuyển động đầu dò nhịp nhàng*1. Đồng thời, có thể sử dụng đầu dò này để trợ giúp cô lập lỗi trong quá trình tạo ảnh dòng hấp thụ mới được phát triển.

 

Phát hiện điểm kết thúc chính xác

Hiển vi Điện tử quét (SEM) độ phân giải cao cho phép phát hiện điểm kết thúc với độ chính xác cao. Tính năng quan sát mặt cắt cho phép quan các đặc điểm chính của mặt cắt sử dụng hình ảnh thời gian thực của Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB). Tính năng này đặc biệt thích hợp khi chuẩn bị các mẫu nhạy cảm với phát xạ electron như vật liệu có hằng số điện môi nhỏ (Low-K Material).

 

Hiển vi Điện tử quét độ phân giải cao

Thiết kế cột SEM và đầu dò đặc biệt của Hitachi*2 cho phép quan sát hình ảnh SEM độ phân giải cao trong khi diễn ra cũng như sau khi kết thúc quá trình chế tạo bằng FIB. 

 

Giá giữ mẫu tương thích với TEM/STEM*1*2

Bệ mẫu kiểu STEM/TEM đặt ở bên cho phép sử dụng cùng một loại giá giữ mẫu (tương thích với các hệ thống NB5000 và TEM/STEM của Hitachi). Không cần dùng nhíp giữ mẫu trong quá trình chuyển mẫu giúp tăng năng suất làm việc với TEM/STEM.

 

*1: Phụ kiện chọn thêm
*2: Các bằng sáng chế của Hitachi:


Hệ quang học Low Cs FIB: đang chờ cấp bằng sáng chế;

Micro-sampling: JP2774884/US5270552;

Tính năng quan sát mặt cắt: đang chờ cấp bằng sáng chế;

Thiết kế cột SEM và đầu dò: JP3081393/US5387793;

Giá giữ mẫu tương thích: JP2842083.

FIB

Thế gia tốc

1 - 40 kV

Cường độ chùm tia

50 nA hay cao hơn @ 40 kV (CP)

Độ phân giải SIM

5 nm @ 40 kV (CP)

Độ phóng đại

×60 - ×250,000

Nguồn Ion

Kim loại Gali lỏng

Hệ thống thấu kính

Hệ thống thấu kính tĩnh điện 2 cấp

SEM

Thế gia tốc

0.5 - 30 kV

Độ phân giải SEM

1.0 nm @ 15 kV (CP)

Độ phóng đại

Chế độ High Mag

×250 - ×800.000

Chế độ  Low Mag

×70 - ×2.000

Nguồn điện tử

Phát xạ Schottky ZrO/W

Hệ thống thấu kính

Hệ thống thấu kính điện từ 3 cấp

Lựa chọn tín hiệu

SEM

 SE cao, SE thấp, dòng hấp thụ*1

FIB

SE thấp, dòng hấp thụ*1

Bệ mẫu

Khoảng di chuyển

X: 50 mm (30 mm*2),
Y: 50 mm (30 mm(*2)), Z: 22 mm

T: -1.5 - 58.3°, R: 360°

Kích thước mẫu

Đường kính tối đa

Φ50 mm (Φ30 mm*2)

Lắng

Vật liệu

Vonfram/Cacbon (thay đổi được)

Micro-sampling

Thay đổi đầu dò

Kiểu khóa tải

Tính năng bổ sung

Nhận biết cảm ứng, tạo ảnh dòng điện hấp thụ*1

 

CP: Điểm cắt chùm tia

*1: Phụ kiện chọn thêm
*2: Khi đặt hàng bệ mẫu  nạp tải ở bên

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.