Thông tin:
- Mô tả sản phẩm: tấm pin quang điện poly-silicon với các đường bạc dẫn điện đan xen. Poly-silicon được khắc theo cấu trúc kim tự tháp với độ dốc 40 độ và theo hướng ngẫu nhiên. Đường bạc phản chiếu 90% ánh sáng Mặt Trời trong khi Poly-silicon chỉ nhận lại 0.5%. Sản phẩm được gắn trên lam kính để dễ thao tác. Khi bị nhiễm bụi, hãy sử dụng khí Nito tinh khiết hoặc khí nén. Còn đối với việc bị phơi nhiễm các chất hữu cơ, hãy sử dụng API hoặc ethanol.
- Nguồn: E-bay. Mẫu sản phẩm được cung cấp bởi nhóm phát triển ứng dụng
Mục đích thí nghiệm:
Chuẩn bị/ Thiết lập thử nghiệm:
- Vision 64 bản 5.70.2 hoặc cao hơn.
- Camera quan sát đen trắng
- Yêu cầu vật kính 115x và mức thu phóng 2x với máy ảnh 640*480 pixels. Thấu kính có độ thu phóng 1x phù hợp cho máy ảnh đời cao.
Trước khi đo lường cần đảm bảo lấy lại nét vật kính.
- Duy trì nhiệt độ phòng ổn định tránh thay đổi tiêu cự trên vật kính
- Cài đặt chế độ: VXI/USI ở chế độ tự động và SNR=2
- Để thực hiện đo, dùng Back Scan = 10 µm và chiều dài = 10 µm
- Kiểm tra chức năng Enhanced Imaging để xem ảnh xếp chồng và mật độ.
Trình tự:
- Để lấy nét bề mặt, sử dụng vật kính với mức phóng đại thấp và tìm tiêu điểm dọc theo đường kẻ bạc. Chỉ lấy nét trực quan, không tìm sự xuất hiện của các đường giao thoa. Sau đó chuyển sang vật kính 115x.
- Lấy tiêu cự trên đường kẻ bạc chỉnh màu bão hòa nhẹ trên đường đó.
- Thực hiện phép đo: Xác định đồng thời các đường giao thoa và độ sắc nét của hình ảnh. Nếu không, nhanh chóng lấy nét lại vật kính bằng mẫu AISiC.
- Đảm bảo loại mọi bộ lọc trung vị và mọi giá trị trung bình khỏi kết quả phân tích mặt cắt ngang để bảo đảm độ phân giải ngang
- Hiện thị chế độ xem 3D không có lớp xếp chồng
Sự cố: trong trường hợp dữ liệu lớn bị thất lạc trong vùng Poly-silicon,
+ Tăng lượng ánh sáng
+ Kiểm tra lại vật kính đó có được lấy nét tốt không
Ví dụ dữ liệu nhận được:
