Hình 1: Nhựa Aramid (a) Sản phẩm nhựa dệt Aramid | (b) Hình ảnh phóng đại của sợi dệt
Kính hiển vi điện tử quét (SEM) được sử dụng để phát triển, quản lý chất lượng và phân tích lỗi các sản phẩm nhựa. Tuy nhiên, quan sát SEM sản phẩm nhựa thường được xem là khó khăn do hiện tượng tích điện và phá hủy tia electron.
Nhựa resin là một mẫu điển hình khó quan sát bằng SEM do sự tích điện. Ngay cả khi mẫu đã được phủ một lớp ion dẫn điện để giảm thiểu sự tích điện, hiện tượng đó vẫn có thể xảy ra một phần tại những khoảng trống không được phủ giữa các sợi. Trong bài viết này, mẫu không phủ ion được chuẩn bị để quan sát hiện tượng giảm tích điện khi đặt dưới thế gia tốc thấp 0.6 kV và tích hợp các hình ảnh quét nhanh trong hình 1 (a). Hình ảnh phóng đại của các sợi (b) cho thấy không có sự ảnh hưởng của hiện tượng tích điện.
Hình 2: Nhựa Polyacetan (a) Bề mặt màng nhựa polyacetan | (b) Hình ảnh phóng đại của một tinh thể spherulite
Nhựa polyacetan được thể hiện trong hình 2 đặc trưng bởi độ bền cơ học tuyệt vời và độ cứng phát sinh từ độ kết tinh cao của nó, nhưng nó dễ vỡ khi tiếp xúc với chùm tia điện tử và bị biến dạng khi thế gia tốc từ 2 kV trở lên. Cấu trúc spherulite (←) trên bề mặt của màng nhựa polyacetal trong hình (a) được quan sát bởi thế gia tốc thấp 1.5 kV. Hình ảnh phóng đại (b) cũng có thể thu được khi sử dụng phương pháp quét loại bỏ điện tích (CSS).
Thông tin bổ sung:
Điều kiện quan sát SEM:
*******************************************
Để được tư vấn và biết thêm thông tin chi tiết, xin vui lòng liên hệ:
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Email: info@redstarvietnam.com / thuy.le@redstarvietnam.com
