Kính hiển vi điện tử truyền qua phát xạ trường lạnh HF5000 Call for price HF5000 là loại kính hiển vi điện tử truyền qua 200kV thế hệ mới, được kết hợp dựa trên công nghệ của kính hiển vi điện tử truyền qua truyền thống (TEM) với kính hiển vi điện tử quét truyền qua (STEM), đạt độ phân giải không gian sub-angstrom (Sub- Å, 0.1nm) hoặc thấp hơn. HF5000 kế thừa các đặc tính kỹ thuật nổi bật của kính hiển vi điện tử quét truyền qua (STEM) HD-2700 như bộ hiệu chỉnh qua sai cầu, chức năng hiệu chỉnh quang sai tự động, khả năng chụp ảnh SE phân giải nguyên tử, bên cạnh đó HF5000 cũng tích hợp các công nghệ của kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) truyền thống. Hơn nữa, súng điện tử của HF5000 được trang bị công nghệ phát xạ trường lạnh, cột súng và bệ mẫu được thiết kế lại để nâng cao khả năng hoạt động ổn định và hiệu năng cao. Tích hợp ba công nghệ hiển vi điện tử của HITACHI lên trên một nền tảng thiết bị TEM 200kV thế hệ mới giúp đảm bảo đặt được cả hai mục tiêu cùng lúc, đó là phân tích độ nhạy cao và hiệu chỉnh quang sai ở nhiều chế độ quan sát của HF5000.

Kính hiển vi điện tử truyền qua HT7800 Series Call for price Thế hệ cải tiến mới. Đáp ứng ngoài sự mong đợi nhu cầu trong nhiều lĩnh vực. HT7800 RuliTEM là loại kính hiển vi điện tử truyền qua 120 kV với nhiều cấu hình ống kính, bao gồm một ống kính tiêu chuẩn cho độ tương phản vượt trội và ống kính HR đẳng cấp hàng đầu cho độ phân giải cao. Bước đột phá này trong thiết kế sáng tạo tiên tiến tạo ra những quy trình làm việc hiệu quả cao và nhiều ứng dụng chuyên biệt. HT7800 Series đại diện cho giải pháp tiên tiến trong phân tích TEM hiện đại.

Kính hiển vi điện tử truyền qua HT7700 Call for price HT7700 được trang bị hệ thống thu ảnh độ tương phản siêu cao, chất lượng hình ảnh với độ phân giải cao kết hợp chức năng phân tích cho các ứng dụng trong dược phẩm, công nghiệp thực phẩm, nông nghiệp, polymer, hóa học và vật liệu nano.

Kính hiển vi điện tử quét/truyền qua HD 2700 Call for price Tạo ảnh độ phân giải cao hiệu chỉnh Cs & phân tích độ nhạy cao với năng suất vượt trội Trong các lĩnh vực khác nhau từ R&D đến kiểm tra chất lượng của vật liệu tiến tiến nano và thiết bị bán dẫn, thì nhu cầu cần phải cải thiện độ phân giải không gian và hiệu suất phân tích cho kính hiển vi điện tử đang ngày càng gia tăng trong những năm gần đây. Hiệu chỉnh quang sai cung cấp một giải pháp ưu việt cho những nhu cầu đó. Hitachi High Technologies trước đây đã thương mại hóa kính hiển vi điện tử với khả năng hiệu chỉnh quang sai cầu, từ đó tiếp tục theo đuổi khái niệm về cung cấp cả năng suất cao và hiệu suất cao có được từ sự hiệu chỉnh quang sai. Dòng STEM HD-2700 với bộ hiệu chỉnh quang sai mới được phát triển của Hitachi đã thành công trong việc hiện thực hóa khái niệm trên.

Kính hiển vi điện tử truyền qua H-9500 Call for price Kính hiển vi điện tử truyền qua 300kV, độ phân giải nguyên tử. Kính hiển điện tử độ phân giải nguyên tử ngày càng trở nên quan trọng và không thể thiếu được trong nghiên cứu (R&D) bán dẫn và vật liệu tiên tiến, nơi mà công nghệ vi chế tạo đã đi đến mức độ sub-nano. Nhằm đáp ứng nhu cầu cao này, Hitachi High Technologies đã phát triển kính hiển vi điện tử truyền qua H-9500 với hiệu suất cao trong hiển vi điện tử truyền qua độ phân giải cao đã được chứng minh trên hiện trường, cùng với một số các tính năng thân thiện với người dùng độc nhất. Công nghệ kỹ thuật số mới nhất được tích hợp để làm dễ dàng việc thu thập thông tin về các cấu trúc ở mức độ nguyên tử một cách kịp thời.

Kính hiển vi điện tử truyền qua HF-3300 Call for price “The Cold FE-TEM” với độ phân giải siêu cao ổn định và các khả năng phân tích thế hệ mới!! Sự kết hợp của nguồn phát điện tử trường lạnh có độ tin cậy cao và thế gia tốc 300kV của Hitachi hiện thực hóa khả năng tạo ảnh có độ phân giải siêu cao và phép phân tích nhạy cao. Độ phân giải không gian EELS*, chùm nhiễu xạ điện tử (diffraction*) nanobeam song song có độ chính xác cao và tạo ảnh SEM/STEM tại chỗ đã mở một con đường mới & độc nhất cho việc phân tích vật liệu độ chính xác cao. Quan sát SEM/STEM của chất xúc tác Pt/C tại chỗ. Khi bơm không khí vào vùng mẫu vật, các phản ứng giữa các hạt nano Pt và chất trợ bằng carbon xảy ra, dẫn đến hình thành các lỗ trên bề mặt carbon và các hạt nano chìm xuống (Bên trái: hình ảnh SEM, bên phải là hình ảnh ADF-STEM). Nhiệt độ mẫu: 2000C, áp suất khí trong mẫu 10Pa, tốc độ phát lại: 30x.