Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : đ

Thiết bị chuẩn bị mẫu bằng chùm tia Ion IM4000Plus

Model:
Tình trạng: Liên hệ
Thế hệ máy chuẩn bị mẫu bằng chùm tia Ion mới nhất có tốc độ xử lý nhanh hơn. IM4000Plus sử dụng phương pháp đánh bóng bằng chùm tia Ion Ar+ năng lượng thấp, đảm bảo bề mặt hoặc mặt cắt được đánh bóng không bị ảnh hưởng bởi lực cơ học.
Bảo hành: Chưa có thông tin bảo hành


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 03 tháng với hàng hóa tiêu hao và phụ kiện.
    Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com            Tất cả các ngày trong tuần

Máy chuẩn bị mẫu bằng chùm tia Ion IM4000Plus là thế hệ thứ hai, đây là loại thiết bị lai hỗ trợ cả hai phương pháp đánh bóng bề mặt và đánh bóng mặt cắt. Cấu hình đa dạng gồm cấu hình tiêu chuẩn, cấu hình với tùy chọn nhiệt độ thấp, tùy chọn bảo vệ mẫu trong môi trường không khí hoặc cấu hình có cả hai tùy chọn này.

 

 

 

Đặc tính nổi bật

● Tốc độ xử lý nhanh hơn với hệ thống quang học Ion nâng cao (> 500 µm/giờ tại 6kV)

● Quy trình xử lý ngắt quãng giúp loại bỏ nhiệt khi làm việc với các loại vật liệu nhạy cảm nhiệt

● Chế độ vận hành nhiệt độ thấp được cải thiện với bộ điều khiển nhiệt độ chính xác

● Chức năng định vị mặt nạ chính xác hơn trong chế độ xử lý mặt cắt

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.

Cooling Unit

The cryogenic versions of the IM4000 and IM4000Plus provide active cooling of the cross section milling stage during sample processing. A liquid nitrogen dewar is connected to the cross section stage to effectively remove ion beam milling induced heat from the shielding mask and sample.

 

 

The Cryo Temperature Controller (CTC) allows the user to set a desired cooling temperature during the milling process. This is achieved by placing a heater and temperature sensor directly at the cross section shielding mask so that any desired process temperature can be accurately maintained.

 

At the end of the milling process, the cooled specimen stage is gently warmed up to room temperature in order to avoid ice formation or water condensation on the sample surface.

 

Sample cooling can support damage-free cross section milling of highly temperature sensitive specimen such as polymers or soft metals. However, even with active cooling applied, it is important to choose proper processing parameters, especially for samples with low thermal conductivity, because the heat generated at the direct impact point of the ion beam must first be effectively conducted to the cooled parts embedded in the specimen. The IM4000 with CTC provides high ion beam currents even at lower "gentle" accelerating voltages, and is therefore optimally suited for this type of work.

 

Passive heat sink option

 

For occasional temperature-sensitive applications, an optionally available pre-cooled heat sink block can be easily attached to the cross section milling stage of the standard IM4000 unit. By pre-chilling this cooling block in a freezer prior to starting milling, samples can be effectively cooled during the typical short processing times in IM4000.

 

 

Cooling System

Sample : Lead Solder

 

(a) Milling without Sample Cooling

(b) Milling with Sample Cooling

 

(a)Pb-Sn interface voids present due to thermal deformation.

(b)With LN2 cooling, a damage-free Pb-Sn interface is clearly observed.

 

 

Sample : Separator Membrane

 

(a) Milling without Sample Cooling

(b) Milling with Sample Cooling

 

(a)Thermal damage from ion beam irradiation is observed on a fine filament structure.

(b)Fine structure is intact following ion milling with cooling.

 

 

Air Protection Holder Unit

Advanced materials - especially those related to Lithium battery research - require strict protection from the atmosphere during transfer from cross sectional preparation to analysis through SEM.
IM4000 air protect is a retrofittable solution for IM4000 instruments that allows samples prepared and encapsulated under protective atmospheric conditions to be loaded in a glove box and then into the IM4000 and to be exported under vacuum conditions after cross section milling.

 

 

A manipulator mechanism attached to the viewing window on top of the specimen chamber allows sealed sample capsules to be opened after IM4000 evacuation, and to be re-encapsulated prior to chamber venting.
Standard capsules can be directly transferred into the air protect specimen exchange chambers, which are optionally available for all Hitachi FE-SEM Original encapsulation of samples to be ion milled is supported by a fully mechanical fit type holder-and-shielding mask mechanism, which eliminates the fine mechanical setting and adjustment tasks that are usually hard to accomplish wearing thick rubber gloves inside a glove box.

 

The application picture below shows the importance of such air protected sample preparation work. In this example, a negative electrode of a Li ion battery is first observed under air protected transfer to the SEM, and then observed a second time after 10 minutes of exposure to the room atmosphere.

 

Specimen : Negative electrode of lithium-ion battery

 

SEM image of ion milled sample transferred 
under strict air protection

SEM image after just 10 minutes of air 
exposure between ion beam milling and 
SEM observation