Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : đ

Kính hiển vi điện tử truyền qua HF-3300

Model: HF-3300
Tình trạng: Liên hệ
“The Cold FE-TEM” với độ phân giải siêu cao ổn định và các khả năng phân tích thế hệ mới!!

Sự kết hợp của nguồn phát điện tử trường lạnh có độ tin cậy cao và thế gia tốc 300kV của Hitachi hiện thực hóa khả năng tạo ảnh có độ phân giải siêu cao và phép phân tích nhạy cao. Độ phân giải không gian EELS*, chùm nhiễu xạ điện tử (diffraction*) nanobeam song song có độ chính xác cao và tạo ảnh SEM/STEM tại chỗ đã mở một con đường mới & độc nhất cho việc phân tích vật liệu độ chính xác cao.



Quan sát SEM/STEM của chất xúc tác Pt/C tại chỗ.

Khi bơm không khí vào vùng mẫu vật, các phản ứng giữa các hạt nano Pt và chất trợ bằng carbon xảy ra, dẫn đến hình thành các lỗ trên bề mặt carbon và các hạt nano chìm xuống (Bên trái: hình ảnh SEM, bên phải là hình ảnh ADF-STEM). Nhiệt độ mẫu: 2000C, áp suất khí trong mẫu 10Pa, tốc độ phát lại: 30x.
Bảo hành: 12 tháng


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 03 tháng với hàng hóa tiêu hao và phụ kiện.
    Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com            Tất cả các ngày trong tuần

Nguồn điện tử phát xạ trường lạnh độ sáng cao (Cold FE)

 

Nguồn điện tử phát xạ trường lạnh mang lại phép phân tích nanoscale có độ sáng và độ phân giải năng lượng cao. Sự cố kết cao vốn có của nó góp phần đáng kể cho tạo ảnh độ phân giải siêu cao và chụp ảnh điện tử giao thoa la de.*

 

Thế gia tốc 300kV

 

Thế gia tốc 300kV cho hình ảnh với độ phân giải nguyên tử với mẫu dầy. Kim loại và gốm sứ với nguyên tử số cao, ít điện tử minh bạch và thường được quan sát ở thế gia tốc 300kV.

 

Các tính năng phân tích độc nhất

 

Không gian xử lý EELS vừa mới được giới thiệu và quan sát hình ảnh SEM/TEM cùng vị trí nhiễu xạ điện tử nanobeam cung cấp khả năng phân tích tinh vi và độc đáo.

 

Đế mẫu liên kết với hệ thống hai chùm tia FIB

 

Hố giữ mẫu của Hitachi tương thích với hệ thống hai chùm tia FIB không yêu cầu xử lý với nhíp lới của TEM giữa FIB chế tạo và quan sát TEM và phân tích mẫu trên TEM cho độ tin cậy cao. Hỗ giữ mẫu xoay độc đáo của Hitachi* cho phép phân tích cấu trúc đa chiều thời gian thực cùng với bộ phận STEM.

 

Hoạt động thân thiện

 

Máy tính điều khiển TEM/STEM* dựa trên nền Windows, Điều chỉnh khẩu độ bằng motor, đế giữ mẫu tự động 5 trục cho phép truy cận TEM dễ dạng hơn, Thế gia tốc sẵn sàng trong vòng 10 phút và thay đổi mẫu mất 1 phút khi tiến hành phân tích mẫu trên TEM.

 

* Phụ kiện chọn thêm

* Windows là một nhãn hiệu đã được đăng ký của Microsoft Corp., tại Hoa Kỳ các quốc gia khác

 

STT

Mô tả

Nguồn phát điện tử

W(310) nguồn phát điện tử trường lạnh

Thế gia tốc

300kV, 200kV*2, 100kV*2

Độ phân giải

Lưới

0.10nm

Điểm tới điểm

0.19nm

Thông tin hạn chế

0.13nm

Độ phóng đại

Chế độ phóng đại thấp

200 – 500x

Chế độ phóng đại cao

2,000 – 1,500,000x

Xoay ảnh

±50 hoặc nhỏ hơn (chế độ phóng đại cao, dưới 1,000,000x)

Góc nghiêng mẫu

±150

Độ sâu camera

300 – 3,000mm

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.