Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : đ

Kính hiển vi điện tử quét/truyền qua HD 2700

Model: HD-2700
Tình trạng: Liên hệ
Tạo ảnh độ phân giải cao hiệu chỉnh Cs & phân tích độ nhạy cao với năng suất vượt trội

Trong các lĩnh vực khác nhau từ R&D đến kiểm tra chất lượng của vật liệu tiến tiến nano và thiết bị bán dẫn, thì nhu cầu cần phải cải thiện độ phân giải không gian và hiệu suất phân tích cho kính hiển vi điện tử đang ngày càng gia tăng trong những năm gần đây. Hiệu chỉnh quang sai cung cấp một giải pháp ưu việt cho những nhu cầu đó. Hitachi High Technologies trước đây đã thương mại hóa kính hiển vi điện tử với khả năng hiệu chỉnh quang sai cầu, từ đó tiếp tục theo đuổi khái niệm về cung cấp cả năng suất cao và hiệu suất cao có được từ sự hiệu chỉnh quang sai. Dòng STEM HD-2700 với bộ hiệu chỉnh quang sai mới được phát triển của Hitachi đã thành công trong việc hiện thực hóa khái niệm trên.
Bảo hành: 12 tháng


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 03 tháng với hàng hóa tiêu hao và phụ kiện.
    Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gọi đặt hàng tư vấn 096-256-8811            Tất cả các ngày trong tuần

Tạo ảnh STEM độ phân giải cao

 

HAADF-STEM image 0.136 nm, FFT image 0.105 nm (HR lens*)

BF STEM image 0.204 nm (w/o Cs-corrector)

 

Phân tích EDX độ nhay và tốc độ cao: Dòng dò lớn hơn gấp 10 lần

 

Lập bản đồ nguyên tố với thời gian nhanh hơn, phát hiện các nguyên tố có nộng độ thấp.

 

Hitachi in-house Cs-corrector

 

Được trang bị với một bộ hiệu chỉnh quang sai cầu dạng đầu dò được phát triển bởi Hitachi,

quá trình hiệu chỉnh quang sai tự động diễn ra nhanh chóng và không yêu cầu phải có kinh nghiệm về hiệu chỉnh quang sai.

 

Giải pháp hoàn hảo cho tất cả từ chuẩn bị mẫu đến quan sát & phân tích

 

Hố giữ mẫu tương tích với FIB Hitachi.

 

STT

Mô tả

 

w/o Cs-corrector

w/Cs-corrector

Phân giải hình ảnh

0.204nm (ở độ phóng đại 4,000,000x)

0.136nm (hỉnh ảnh HAADF-STEM)

0.105nm (FFT) (ở độ phóng đại 7,000,000x)(Hrlens)

Độ phóng đại

100x -10,000,000x

Thế gia tốc

200kV, 120kV*, 80kV*

Tín hiệu hình ảnh

Trường sáng STEM: hình ảnh tương phản pha (hình ảnh TE)

Nền đen STEM: hỉnh ảnh tương phản – Z (hỉnh ảnh ZC)

Hình ảnh điện tử thứ cấp (hỉnh ảnh SE)

Nhiễu xạ điện tử*

Phân tích đặc trưng tia X và lập bản đồ nguyên tố (EDX)*

Phân tích EELS và lập bản đồ nguyên tố (EV3000)*

Quang điện tử

Nguồn điện tử

Phát xạ Schottky (w/o Cs-corrector)

Phát xạ trường lạnh (w/Cs-Corrector, w/o Cs-corrector)

Hệ thống thấu kính hội tụ

Thấu kính hội tụ 2 tầng

Cs-corrector*

Thiết kế thấu kính truyền đa cực

Cuộn quét

Cuộn từ trường 2 tầng

Bộ điều khiển góc thu ZC

Thiết kế thấu kính rọi

Dịch ảnh trường điện

±1um

Đế mẫu

Dịch chuyển đế mẫu

X/Y = ±1mm, Z = ±0.4mm

Nghiêng mẫu

Hố giữ mẫu nghiêng đơn: ±300 (Std. Léns) ±180 (HR lens)

 

 

Tạo ảnh SEM hiệu chỉnh Cs

 

 

HD –series của Hitachi dành riêng cho STEM được trang bị đầu dò điện tử thứ cấp (SE) như cấu hình tiêu chuẩn, điều này cho phép ghi ảnh

bề mặt mẫu vật trực tiếp và thu thập thông tin về cấu trúc bên trong của mẫu thông qua chùm điện tử truyền qua. Hỉnh ảnh SE cho phép đo

kích thước tinh của mẫu dầy không tương thích cho STEM. Hiệu chỉnh quang sai cầu đẩy độ phân giải SEM tới cấp độ nguyên tử.

 

 

   

 

 

 

Đầu dò EDS góc khối lớn

 

 

Góc khối lớn SDD 100 mm2 thây rõ độ nhạy phân tích EDS gấp nhiều lần so với trước đây, và thông lượng phân tích các nguyên tố

cũng cao hơn trong thời gian thu dữ liệu ngắn hơn.


 

 

Thiết bị ánh xạ transistor bán dẫn MOS: HD-2700B (không hiệu chỉnh Cs), Thời gian thu: 10 giây/khung hình, Tốc độ xem: 5x

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.