Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Thiết bị phân tích Oxy, Nitơ EMGA-920 Giá liên hệ Đây là thiết bị phân tích nguyên tố Ô-xy và Ni-tơ có độ chính xác và độ lặp lại cao, phù hợp với công nghệ tối tân của R&D cũng như kiểm soát chất lượng trong thị trường thép, vật liệu mới, chất xúc tác... Thiết bị thế hệ mới này được tối ưu hóa để đáp ứng nhu cầu của người sử dụng.

Thiết bị phân tích Oxy, Nitơ, Hydro EMGA-930 Giá liên hệ Model EMGA-930 là lựa chọn hàng đầu để phân tích O/N/H và là sản phẩm thân thiện với người sử dụng. Thiết bị phân tích đồng thời các nguyên tố O/N/H với độ chính xác và độ tin cậy cao, công nghệ tiên tiến vượt trội dành cho hoạt động nghiên cứu & phát triển (R&D); kiểm soát chất lượng trong các ứng dụng kim loại, vật liệu mới, chất xúc tác, vv...

Máy phân tích Carbon/Lưu Huỳnh series EMIA-8100 Giá liên hệ Dòng thiết bị phân tích carbon/lưu huỳnh EMIA-8100 được trang bị với lò nung điện cho phép phân tích thành phần carbon và lưu huỳnh trong mẫu vô cơ như gốm sư, xi măng, các loại nhiên liệu như than đá, dầu nặng, và các kim loại năng cũng như vật liệu điện tử như sắt tinh khiết và kim loại màu.

Máy phân tích Carbon/Lưu huỳnh Horiba EMIA-V2 Giá liên hệ Thiết bị EMIA-V2 phân tích hàm lượng carbon và lưu huỳnh chiết xuất trong quá trình đốt cháy trong lò cao tần được lập trình mà không cần quá trình chuyển hóa. Việc kiểm soát quá trình đốt cháy được thực hiện bằng cách sử dụng phương pháp lò cảm ứng cao tần. Kiểm soát nhiệt chính xác theo mục đích phân tích cho phép phân tích tất cả các loại mẫu với độ chính xác cao. Một loạt các model cho phép bạn lựa chọn hệ thống lò phù hợp nhất với mẫu và ứng dụng đa dạng.

Thiết bị phân tích huỳnh quang và clo tia X MESA-7220 Giá liên hệ MESA 7220 có khả năng đo hàm lượng lưu huỳnh thấp và clo trong xăng dầu, xăng sinh học trong cùng một thiết bị. Clo được xác định trong chất lỏng và nước làm mát.

Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X X-5000 Giá liên hệ HORIBA tiếp tục đổi mới trong thị trường xăng dầu bằng cách hợp tác với Olympus Innov-X để phát triển thiết bị phân tích huỳnh quang tia X di động X-5000.

Thiết bị phân tích lưu huỳnh trong xăng dầu SLFA-2100/2800 Giá liên hệ SLFA-2100/2800 được thiết kế đặc biệt để đáp ứng các nhu cầu khắt khe về việc đo nhiên liệu ít lưu huỳnh, diesel và RFG mới.

Thiết bị phân tích lưu huỳnh trong xăng dầu SLFA-60 Giá liên hệ HORIBA giới thiệu thiết bị phân tích lưu huỳnh trong dầu có thể di chuyển được, model SLFA-60. Thiết bị mở rộng khả năng lưu trữ các đường cong hiệu chuẩn và dữ liệu có thể được xuất ra bằng cổng USB. Dải đo tăng từ 0-9.9999 wt% để có thể ứng dụng trong thị trường dầu thô và dầu đá phiến có hàm lượng lưu huỳnh cao.

Zeta potential cells Giá liên hệ Zeta potential cells
Manufacturing by HORIBA

Particle size cells Giá liên hệ Particle size cells
Manufacturing by HORIBA

Hệ thống đặc tính hóa hấp thụ dòng điện bằng chùm tia điện tử Hitachi (EBAC) nanoEBAC NE4000 Giá liên hệ Hitachi NE4000 nano EBAC là một hệ thống đo dùng chùm tia điện tử để đặc tính hóa tính chất về điện học và EBAC phân tích và thu ảnh của thiết bị vi điện tử như liên kết, vật liệu và linh kiện.

Kính hiển vi điện tử quét SU1510 Giá liên hệ

!Dòng sản phẩm đã ngừng sản xuất

SU1510 là VP SEM buồng mẫu cỡ trung với các tính năng và hiệu suất như các mẫu S3700N và S3400N. Súng bắn điện tử với thế hãm phần tư nâng cao hiệu suất ở thế gia tốc thấp và tăng dòng chùm tia thích hợp với các đầu dò X-ray SDD hiện đại. 2 cổng gắn đầu dò EDS lệch nhau 180° cho phép phân tích đồng thời và triệt tiêu đổ bóng bản đồ X-ray phù hợp với các bề mặt mẫu thô. Bơm TMP tốc độ cao, sạch, hiệu quả giúp loại bỏ việc làm mát bằng nước.
Nhỏ gọn, chất lượng cao và dễ sử dụng là những đặc điểm giúp SU1510 trở thành VPSEM đa chức năng cho mọi phòng thí nghiệm nâng cao.

Kính hiển vi điện tử quét S-3400N Giá liên hệ
SEM đa áp suất S3400N mới của Hitachi được phát triển trên việc cải tiến thiết kế của VP SEM S3000N - mẫu đã được sử dụng rộng rãi trên thị trường thế giới. Cho phép nghiên cứu các mẫu ướt, dầu hoặc/và không dẫn điện mà không cần phủ hay các kĩ thuật chuẩn bị mẫu phức tạp khác.
Các chức năng phần mềm và phần cứng mới được phát triển việc lắng nghe khác hàng để cho ra sản phẩn với chất lượng ảnh tốt hơn, kích thước mẫu lớn hơn, dễ dàng phân tích, nhanh hơn và dễ dàng sử dụng.
Hệ quang điện tử tốt hơn, buồng mẫu lớn hơn, hệ chân không sạch và nhanh hơn, cùng phần mềm tự động hoạt toàn chỉ là một vài tính năng mới của S3400N. Nhờ thiết ké hệ chân không TMP mới, hệ thống không cần tới nước làm mát. Thời gian đổi mẫu không tới 100s và chưa tới 6 phút đễ sẵn sàng làm việc từ lúc khởi động. Tiêu tốn năng lượng chỉ 2kVA.S3400N sẽ là tiêu chuẩn thế giới mới cho dòng SEM đa áp suất tầm trung.

Kính hiển vi điện tử quét S-3700N Giá liên hệ Kính hiển vi điện tử quét (SEM) hiện nay đã được sử dụng rộng rãi, không chỉ trong các viện nghiên cứu, mà còn trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau. Tương ứng với điều này, mẫu cần quan sát và phân tích cũng đa dạng từ các ứng dụng khác nhau. S3700N được phát triển để thỏa mãn sự đa dạng này. Với cấu hình tiêu chuẩn, hệ thống đi kèm đầu dò SE, đầu dò BSE 5 vùng cùng chế độ đa áp suất (VP.)

Điều đó cho phép quan sát tất cả các mẫu ở trạng thái tự nhiên của chúng, hay trạng thái ướt mà không cần phải phủ mẫu như trước đây trên các SEM thông thường. S3700N có buồng mẫu lớn có thể quan sát được mẫu có đường kính lên tới 300mm và cao tới 100mm. Hệ thống cũng có nhiều cổng chờ phụ kiện cho nhiều ứng dụng ngày nay. Các phụ kiện này bao gồm EDX, WDX, EBSD, chamber scope, đế lạnh và nhiều thứ khác nữa. Hệ thống đa năng và linh hoạt này có thể đáp ứng các yêu cầu sau này của bạn.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi MI4050 Giá liên hệ MI4050 là hệ thống Hiển vi chùm ion hội tụ hiệu suất cao của Hitachi. Được trang bị hệ quang học thế hệ mới, MI4050 cho độ phân giải hiển vi SIM hàng đầu thế giới và chuẩn bị mẫu hiển vi TEM độ nét cao nhờ cải tiến độ phân giải ảnh ở thế gia tốc thấp.

MI4050 có thể đáp ứng yêu cầu của nhiều ứng dụng khác nhau như quan sát mặt cắt, chỉnh sửa mạch, tạo hình nano-micro, tạo khuôn nano, chế tạo cơ cấu 3D nano sử dụng chức năng phủ, v.v.

FIB-SEM Hybrid System XVision 200 Giá liên hệ FIB-SEM hybrid system equipped with Hitachi High-Tech Science's latest FIB column and high performance FE-SEM, and FIB-SEM-Ar Triple Beam system equipped with ultra low kV Ar column which can handle the small sample to 200 mm wafer deliver such as high quality TEM sample preparation, Cut&See realtime high resolution obervation and 3D analysis, and EDS analysis.

FIB-SEM Hybrid System XVision 300 Giá liên hệ 1. High Quality TEM Lamella Preparation:
Combination of low acceleration voltage FIB and Ar ion beam enables high quality TEM lamella prepatation

2. Real-time Monitoring
Real-time image monitoring at high magnification during Ga ion beam processing is possible with SEM.

3. High Throughput
High throughput cross-sectioning and TEM lamella preparation with high current FIB is possible.

4. Continuous TEM Lamella Auto-finishing Software
"Continuous A-TEM" a continuous TEM lammela finishing software is installed, enabling automatic creation of TEM lamella.

3D analysis holder Giá liên hệ This is a sample rotation holder commonly usable for FIB and STEM in order to observe a micro-sample processed in the shape of a pillar with an FIB system. It is effectively usable for 3-dimensional structural evaluation of electronic devices under miniaturization and for stereoscopic failure analysis.

Micro-sampling system Giá liên hệ Enables high-throughput analysis

A micro-sampling method (patented in Japan and the U.S.) was developed as a tool for analyzing semiconductor devices which are moving rapidly toward smaller scales. It takes about 1 hour from picking up a micro-sample to analyzing it by STEM. The position accuracy is under 0.1 µm.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000 Giá liên hệ Hệ thống Hiển vi Chùm ion hội tụ & Điện tử quét (FIB-SEM) của Hitachi cho phép phân tích cỡ nano các thiết bị vi mô và vật liệu chức năng với hiệu suất cao chưa từng có.

Hiệu suất và độ tin cậy vượt trội của Hitachi bên trong một hệ thống tích hợp (Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB) và Hiển vi Điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) hiệu suất siêu cao) cho phép chuẩn bị mẫu năng suất cao, chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích cũng như thiết kế và chế tạo các cấu trúc nano chính xác. Các kỹ thuật chế tạo mới cũng đã được phát triển cho các loại vật liệu nhạy cảm với bức xạ điện tử. Các cải tiến trong quy trình nạp mẫu, thăm dò mẫu và kỹ thuật Micro-sampling*1 giúp tăng hiệu suất phân tích.

Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200 Giá liên hệ Sản phẩm thế hệ mới cho năng suất, chất lượng và độ chính xác cao hơn.
Có thể sử dụng để chuẩn bị mẫu hiển vi cho TEM nhờ khả năng đánh bóng ion diện tích lớn.

SA-9600 Series Giá liên hệ - BET Surface Area Measurement Range
Total Surface Area: 0.1 to 50 m2
Specific Surface Area: Approximately 0.01 – 2,000 m2/g
Much more sensitive to low surface area samples than volumetric type analyzers, allowing the use of samples less than 1g and as low as 0.1 square meters in the sample cell.

- Accuracy and Precision
Reproducibility is better than 0.5% COV.
Accuracy is better than 1% for most samples.

PSA300 Giá liên hệ - Size range: 0.5-1000 µm
- Objectives: 2.5X, 5X, 10X, 20X and 50X.
- Automation: Computer controlled Motorized nosepiece, Computer controlled Motorized condenser, Computer controlled Motorized focus, 0.05mic/step, Motorized stage 215 x 75 mm travel, 0.5 mic/step, CLEMEX Motorized stage controller assembly.
- Measurement time: Between 2 and 30 minutes depending on particle size and number of particles analyzed.

CAMSIZER XT Giá liên hệ The design of the CAMSIZER XT is based on the well-proven dynamic image analysis system CAMSIZER but is optimized for finer samples (from 1 µm to 8 mm). Both improved optical resolution and new options for material feeding allow for an extended application range.