Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : 0 đ

Thiết bị đo lường chiều dày lớp phủ và vi cấu trúc 2,5D & 3D FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI

Model:
Tình trạng: Liên hệ
Hands-free X-Ray metrology solution for microstructure measurements of 2.5D and 3D wafer packaging applications.
Bảo hành: Chưa có thông tin bảo hành


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com            Tất cả các ngày trong tuần
  • Hands-free operation, fully automated measurement process under well-defined constant metrology conditions
  • Industry-leading polycapillary optics for microspot measurement on structures as small as 10 µm
  • Very high detector sensitivity and resolution provide precise results
  • Automatic recognition of measurement structures and shift-compensation of measurement spot
  • Easy and intuitive system software
  • Service and maintenance friendly design
  • Designed to work under clean room conditions
  • Automated and manual measurements possible with the same instrument

 

 

Typical fields of application

 

  • Layer thickness and compositional analysis
  • Under-bump metallization (UBM) down to the nm scale
  • C4 solder bumps and smaller
  • Lead-free solder caps on copper pillars
  • Ultra small landing pads and other advanced 2.5D/3D packaging solutions
  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.