Máy đo và phân tích bề mặt để bàn Bruker DektakXT

State: In stock

Warranty: No warranty infomation

Price: Contact us

Order

Delivery time: 8h00 - 18h00 daily
Genuine product, provided width CO, CQ
03 months of free warranty for consumable and accessories
12 months of free warranty for main equipment
Accessorie's price is applied only when purchased with
main equipment
Contact us for any particular accessory's quotion

Email: info@redstarvietnam.com Every day in week

Features
Specifications
Downloads
Comments

Máy đo và phân tích bề mặt của Bruker, DektakXT™, là sản phẩm mang tính cách mạng cho phép lặp lại phép đo lên tới 4Å. Hiệu suất của bút cảm ứng stylus là cột mốc quan trọng đánh dấu sự đỉnh cao của 40 năm đổi mới Dektak® và dẫn đầu trong ngành. Bằng sự kết hợp của những công nghệ tiên tiến nhất, DektakXT mang lại hiệu suất cao nhất, dễ sử dụng và đem lại những giá trị sử dụng để cho phép giám sát quy trình tốt hơn trong lĩnh vực từ R&D đến QC. Những đột phá công nghệ được kết hợp trong Dektak cho phép thực hiện các phép đo bề mặt quan trọng ở cấp độ nano cho các ngành công nghiệp vi điện tử, bán dẫn, năng lượng mặt trời, đèn LED độ sáng cao, y tế và khoa học vật liệu.

Chức năng nổi bật


Tăng tốc thu thập và phân tích dữ liệu Sử dụng bệ mẫu điều mẫu trực tiếp độc đáo, DektakXT tăng tốc độ quét lên 40% trong khi vẫn duy trì hiệu suất hàng đầu trong ngành. Vision64, phần mềm phân tích và hoạt động xử lý song song 64-bit của Bruker, cho phép tải các tệp 3D, các ứng dụng bộ lọc và phân tích cơ sở dữ liệu đa quét nhanh hơn.					Vision64, phần mềm xử lý song song của DektakXT, hoàn thành và xử lý các tệp dữ liệu 3D lớn trong gần một nửa thời gian.

Cảm biến all-in-one của Dektak cho phép quét phạm vi dọc lớn với lực quét thấp					Khả năng lặp lại phép đo nhiều lần Với cấu trúc vòm, DektakXT được thiết kế chắc chắn hơn, giảm thiểu ảnh hưởng của tiếng ồn môi trường. “Thiết bị điện tử thông minh” được nâng cấp của DektakXT làm giảm sự biến đổi nhiệt độ và đồng thời, bộ xử lý hiện đại hạn chế những lỗi xảy ra bởi tiếng ồn, cho phép nó trở thành một hệ thống mạnh mẽ hơn có khả năng đo bậc cao <10nm.

Phương tiện hoàn hảo để hoạt động và phân tích Phần mềm Vision64 của Bruker trong thiết kế sáng tạo của DektakXT mang tới giao diện người dùng hợp lý và trực quan nhất. Sự kết hợp của kiểu dáng thông minh và khả năng tự động hóa, có thể tùy chỉnh, cho phép thu thập và phân tích dữ liệu nhanh chóng và toàn diện. Cho dù bạn đang sử dụng một công thức để thực hiện phân tích thông thường cho các phép đo đơn lẻ hay áp dụng bộ lọc tùy chỉnh và phép toán, Trình phân tích dữ liệu của DektakXT cũng sẽ hiển thị dữ liệu hiện tại, đồng thời gợi ý cho người dùng các phân tích có thể có khác.					Vision64 đơn giản hóa và tăng tốc đáng kể việc vận hành và phân tích dữ liệu.

DektakXT có tính năng trao đổi đầu bút cảm ứng nhanh nhất và dễ dàng nhất, có thể sừ dụng nhiều loại đầu bút khác nhau để giải quyết nhiều loại ứng dụng nhất.					Làm mọi thứ trở nên dễ dàng Bút cảm ứng tự căn chỉnh của DektakXT cho phép người dùng thay đổi đầu bút khác nhau nhanh chóng và dễ dàng, đồng thời ngăn ngừa việc hư hỏng trong quá trình này. Bruker cung cấp nhiều kích cỡ bút stylus nhất để đáp ứng hầu hết mọi nhu cầu ứng dụng.

*Đảm bảo năng suất cao* DektakXT nhanh chóng và dễ dàng thiết lập và vận hành các quy trình đo tự động đa điểm, để xác định độ dày chính xác của màng mỏng trên bề mặt wafer với độ lặp lại chưa từng có. Việc cải thiện năng suất này có thể tiết kiệm thời gian và tiền bạc quý giá.					Bản đồ 3D DektakXT của một mạch lai

Measurement Technique	Stylus proﬁlometry (contact measurement)
Measurement Capability	Two-dimensional surface proﬁle measurements; Optional three-dimensional measurement/analyses
Sample Viewing	Digital magniﬁcation, 0.275 to 2.2 mm vertical FOV
Stylus Sensor	Low Inertia Sensor (LIS 3)
Stylus Force	1 to 15 mg with LIS 3 sensor
Low Force Option	N-Lite+ Low Force with 0.03 to 15 mg (optional)
Stylus Options	Stylus radius options from 50 nm to 25 μm; High Aspect Ratio (HAR) tips 200 μm x 20 μm; Custom tips available upon request
Sample X/Y Stage	Manual 100 mm (4 in.) X/Y, manual leveling; Motorized 150 mm (6 in.) X/Y, manual leveling
Sample R-Theta Stage	Manual, continuous 360 degrees; Motorized, continuous 360 degrees
Computer System	64-bit multi-core parallel processor, Windows® 7.0; Optional 24 in. ﬂat panel display
Software	Vision64 Operation and Analysis Software; Stress Measurement; Microform; Stitching; 3D Mapping; Optional: Stitching; Pattern Recognition; Advanced Production Interface (API)
Vibration Isolation	Vibration isolation solutions available
Scan Length Range	55 mm (2 in.); 200 mm (8 in.) with scan stitching capability
Data Points Per Scan	120,000 maximum
Max. Sample Thickness	50 mm (1.95 in.)
Max. Wafer Size	200 mm (8 in.)
Step Height Repeatability	4Å, 1 sigma on steps ≤1 μm (30 scans using a 12.5 μm stylus)
Vertical Range	1 mm (0.039 in.)
Vertical Resolution	1Å (@ 6.55 μm range)
Input Power	100 – 240 VAC, 50 – 60Hz
Temperature Range	Operating Range, 20 and 25°C (68 to 77ºF)
Humidity Range	≤80%, non-condensing
System Dimensions and Weight	455 mm W x 550 mm D x 370 mm H (17.9 in. W x 22.6 in. D x 14.5 in. H); 34 kg (75 lbs.); Enclosure: 550 mm L x 585 mm W x 445 mm H (21.6 in. L x 23 in. W x 17.5 in. H); 5.0 kg (11 lbs.)