Notice: Undefined index: en in /var/www/html/redstarvietnam.com/public_html/core/functions/function_global.php on line 0

Warning: Invalid argument supplied for foreach() in /var/www/html/redstarvietnam.com/public_html/core/functions/function_global.php on line 0
Hệ thống đặc tính hóa hấp thụ dòng điện bằng chùm tia điện tử Hitachi (EBAC) nanoEBAC NE4000
Red Star Vietnam Co., Ltd.
Icons giỏ hàng Cart 0
Total : đ

Hệ thống đặc tính hóa hấp thụ dòng điện bằng chùm tia điện tử Hitachi (EBAC) nanoEBAC NE4000

State: Out of stock
Hitachi NE4000 nano EBAC là một hệ thống đo dùng chùm tia điện tử để đặc tính hóa tính chất về điện học và EBAC phân tích và thu ảnh của thiết bị vi điện tử như liên kết, vật liệu và linh kiện.
Warranty: 12 tháng


Price: Contact us




Order
  • Delivery time: 8h00 - 18h00 daily
  • Genuine product, provided width CO, CQ
  • 03 months of free warranty for consumable and accessories
  • 12 months of free warranty for main equipment
  • Accessorie's price is applied only when purchased with
    main equipment
  • Contact us for any particular accessory's quotion
Email: info@redstarvietnam.com Every day in week

● Cho ảnh EBAC chất lượng cao với bộ khuếch đại vi sai chất lượng cao EBAC ba82g sáng chế của Hitachi. 
● Giao diện người dùng GUI (Graphical User Interface)  trực quan với nhiều ảnh và tính năng xử lý màu sắc.
● Phạm vi xác định, quang sai thấp, súng điện tử Phát Trường Lạnh (CFE) để thu ảnh ở điện thế thấp và giảm sự phá hủy của chùm tia cho mạch điện. 
● Đầu dò nano có độ chính xác cao.
● Vị trí thô của đầu dò được giám sát bằng một hệ thống máy quay CCD đặt bên trong buồng mẫu.  

 

Kỹ thuật EBAC là phương pháp nhanh chóng và hiệu quả xác định liên kết hở, điện trở cao và ngắn mạch mà không cần kỹ thuật gắn đầu dò trực tiếp vào lớp cấp thấp hơn. EBAC tối ưu hóa chùm tia điện tử đi qua hai lớp điện tử cho phép lớp kim loại bên dưới hấp thụ dòng điện của chùm điện tử. Điện áp gia tốc của bộ điều khiển FESEM kiểm soát độ sâu đo đạc qua hai lớp điện tử. Một đầu đo đặt trên lớp màng bên trên để khép kín mạch và để cho điện tử đi qua  liên kết. Quan sát điện trở cao và ngắn mạch gây ra bởi hiệu ứng  Seebeck có thể được thực hiện bằng cách sử dụng hai đầu đo và bằng sáng chế của Hitachi là bộ khuếch đại vi sai EBAC.

 

 

  Dữ liệu ứng dụng (Hình ảnh của công ty Renesas Electronics Corporation)

 

 

 

Hình ảnh EBAC của liên kết 4 lớp nhôm dùng tính năng hiển thị màu.
*Hình ảnh bộ khuếch đại dòng điện

 

Hitachi Electron Beam Absorbed Current(EBAC) Characterization System nanoEBAC NE4000

 

 

Probe unit

Unit number

4

Driving method

Piezoelectric

Fine stroke range

5 µm (X,Y)

Coarse stroke range

6 mm (X,Y)

Specimen stage / Base stage

Specimen size

25 mm × 25 mm × 1 mm thick or less

Traverse position

Measurement / Specimen exchange position

Specimen exchange

Air-locked exchange chamber

Prober navigation

Stage traverse to probe position

Measurement position memory

Probe coarse adjustment

CCD image display

Image display from lateral direction

Electron optics

Electron gun

Cold field emission electron source

Accelerating voltage

0.5 kV to 30 kV

Resolution

15 nm (at 2 kV, WD=15 mm)

Image shift

±150 µm (at 2 kV, WD=15 mm)

EBAC amplifier / Image display

Amplifier type

Current amplifier / Differential amplifier

Image display

SEM / EBAC (Single / Parallel / Overlay)

Image processing

Black and white reversal display, color display, brightness adjustment, slow scan integration, belt scan

 

 

Dimensions and Weight

 

 

Main unit

1,100 (W) × 1,550 (D) × 1,750 (H) mm, 850 kg

Display unit

1,000 (W) × 1,005 (D) × 1,200 (H) mm, 
265 kg

 

 

Utility requirement

 

 

Room temperature

15 - 25 °C

Humidity

60% RH or less

Power

AC100 V±10% 5 kVA (M5 crimp terminal)

Grounding

100Ω or less

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.