GD-PROFILER 2 Quang phổ phát xạ Plasma (ICP-OES)

State: In stock

Quang phổ phát xạ Plasma (ICP-OES) GD-PROFILER 2 phân tích nhanh, đồng thời của tất cả các nguyên tố, gồm khí nitơ, oxy, hydro và clo. Đây là công cụ lý tưởng để phân tích đặc tính màng mỏng (thin film characterization) và quá trình nghiên cứu.

Warranty: No warranty infomation

Price: Contact us

Order

Delivery time: 8h00 - 18h00 daily
Genuine product, provided width CO, CQ
03 months of free warranty for consumable and accessories
12 months of free warranty for main equipment
Accessorie's price is applied only when purchased with
main equipment
Contact us for any particular accessory's quotion

Email: info@redstarvietnam.com Every day in week

Features
Specifications
Comments

Dễ lắp đặt (không cần chân không cao UHV)
Tốc độ ăn mòn lên tới micromet/ phút
Phân tích các mẫu bán dẫn hoặc phi bán dẫn và mạ
Phân tích định lượng chiều sâu
Có thể đo tất cả các nguyên tố trong cùng 1 lần (bao gồm C, H, O, N và Cl)
Độ phân giải lớp nằm trong dải nm
Kiểu RF xung độc đáo có thể được áp dụng với các mẫu giòn và mạ.
Tuân thủ ISO 14707 và tiêu chuẩn 16962

Dải bước sóng: 110nm ~ 800nm
Có tới 47 kênh nguyên tố
Độ phân giải quang học:18 tới 25 pm đối với tất cả các nguyên tố.
Độ nhạy của RF-GD nằm trong dải 1017nguyên tử/cm2
Đối với các nguyên tố chính, độ chính xác điển hình là 0.4% và thời gian phân tích khoảng 90 giây.
HORIBA Scientific (Jobin Yvon Technology) cung cấp hiệu chuẩn cho cả phân tích mẫu khối và hồ sơ lớp (CDP) cho các hợp kim của Fe, Al, Cu, Ti, Ni, Co, Zn, Sn và Pb sử dụng vật liệu tham chiếu đã được chứng nhận và cung cấp các đường chuẩn theo yêu cầu cụ thể.