Notice
: Undefined variable: product_per_page in
/var/www/redstarvietn_usr/data/www/redstarvietnam.com/display_main/product/product_list.php
on line
0
Vật liệu chức năng | Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Tin mới
(5)
Email:
info@redstarvietnam.com
Bán hàng trực tuyến
- Quý khách vui lòng gửi email về: info@redstarvietnam.com
Tư vấn kỹ thuật
Gửi mail tư vấn kỹ thuật: info@redstarvietnam.com
Sitemap
Đóng góp ý kiến
Đăng ký
Đăng nhập
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Giỏ hàng
0
Tổng :
0
đ
Trang chủ
›
Thiết bị Đo lường
>>
Vật liệu chức năng
Thiết bị Thí nghiệm
Thiết bị Phân tích
Thiết bị Đo lường
Thiết bị Chế tạo
Bruker
Dụng cụ và hóa chất thí nghiệm
Dịch vụ Phân tích
Khuyến mại
Thiết bị y tế
Tìm theo
Vật liệu chức năng
Quang phổ hồng ngoại gần (AOTF)
Máy đo nhiệt lượng
Máy do chỉ số dòng nóng chảy (MFI)
Phân tích vật liệu
Máy độ độ dày lớp phủ
Máy kiểm tra nguyên liệu
Đo độ cứng lớp phủ
Kiểm tra đặc tính vật liệu
Thương hiệu
BRIMROSE
FISCHER-TECHNOLOGY
SCP-Science
TATEYAMA KAGAKU
Xếp theo |
Sắp xếp theo
Mới nhất
Giá tăng dần
Giá giảm dần
Lượt xem
Đánh giá
Tên A->Z
So sánh
Điện cực & thanh graphit SCP Science
Liên hệ
Tình trạng:
Còn hàng
Điện cực & thanh graphit SCP Science
Giá liên hệ
Rotrodes and rods are manufactured from high purity graphite. Patented Chemical Vapor Purification (CVP) technology is used to process the graphite and offer excellent quality. Lot analysis is achieved through Littrow-type spectrography which ensures that the total maximum impurity level of all elements does not exceed 2 ppm.
- Meets ASTM tolerances and conforms to Mil Spec. MIL-E-8971A.
- Complete with a Certificate of Analysis
Detailed total metallic impurities, lot number, and elements detected
Máy đo nồng độ ferit trong thép duplex & austenitic ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo nồng độ ferit trong thép duplex & austenitic FERITSCOPE® FMP30
Giá liên hệ
Handheld instrument for the measurement of the ferrite content
Máy đo độ bám dính lớp phủ trên nền nhôm ANOTEST® YMP30-S
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ bám dính lớp phủ trên nền nhôm ANOTEST® YMP30-S
Giá liên hệ
Sealing quality tester of anodic coatings on aluminum, handheld instrument for on-site testing
Máy đo độ dẫn điện của lớp phủ SIGMASCOPE® SMP350
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dẫn điện của lớp phủ SIGMASCOPE® SMP350
Giá liên hệ
Handheld instrument for electrical conductivity measurement of non-ferromagnetic metals. The electrical conductivity can be used for determining material properties, like hardness, strength, heat damage and material fatigue of metals.
Máy đo độ xốp cầm tay POROSCOPE® HV5, HV20, HV40
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ xốp cầm tay POROSCOPE® HV5, HV20, HV40
Giá liên hệ
Portable holiday detectors – also known as pore test instruments – with continuously adjustable test voltage. Robust instruments for harsh use on construction sites or in manufacturing.
Đầu do đo bề mặt vật liệu FISCHER FMP series
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Đầu do đo bề mặt vật liệu FISCHER FMP series
Giá liên hệ
Surface profile and coating thickness probes can be easily interchanged with the FISCHER FMP series of instruments. This dual capability instrument is an ideal tool for measuring blasted surfaces.
Surface preparation of substrates and selecting the abrasive cleaning method to be used is essential before applying the coating. Likewise, measuring and recording the peak to valley depth that is created by the surface preparation is vital. The FMP series provides quick and repeatable measurements using the Surface Profile Probe. Having this probe on a separate cable allows for readings to be taken in areas where built-in-probes are inaccessible. Measurements are in accordance with ASTM D4417 – Method B as well as other international standards.
Máy đo độ cứng màng vật liệu FISCHERSCOPE® HM2000 S
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ cứng màng vật liệu FISCHERSCOPE® HM2000 S
Giá liên hệ
Cost-effective nanoindentation measuring system for determining the Indentation Hardness, the Indentation Modulus, the Martens Hardness HM, characteristic elastic quantities and additional material parameters in the micro and nanometer range, using the instrumented indentation test according to ISO 14577-1 and ASTM E 2546.
For bulk material and coatings thicker than 1 μm (0.04 mils).
Máy đo độ cứng lớp vật liệu FISCHERSCOPE® HM2000
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ cứng lớp vật liệu FISCHERSCOPE® HM2000
Giá liên hệ
Feature packed, user friendly instrumented indentation instrument to measure Indentation Hardness, Indentation Modulus, Hardness in MPa, Vickers and Martens, Elastic Modulus, Creep and much more of coatings and bulk material using the instrumented indentation test according to ISO 14577-1 and ASTM E 2546.
For bulk material and coatings thicker than 1 μm (0.04 mils).
Máy đo độ cứng màng vật liệu PICODENTOR® HM500 LIGHT
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ cứng màng vật liệu PICODENTOR® HM500 LIGHT
Giá liên hệ
High precision user-friendly instrumented indentation instrument to measure nanomechanical properties such as Indentation Hardness, Indentation Modulus, Elastic Modulus, Creep and much more of coatings and surfaces according to ISO 14577-1 and ASTM E 2546.
For bulk material and coatings thinner than 1 μm (0.04 mils). LIGHT version of the HM 500 for applications with reduced positioning requirements and fixed configuration.
Máy đo độ cứng lớp vật liệu PICODENTOR® HM500
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ cứng lớp vật liệu PICODENTOR® HM500
Giá liên hệ
Next generation of high precision user-friendly instrumented indentation instrument to measure nanomechanical properties such as Indentation Hardness, Indentation Modulus, Hardness, Elastic Modulus, Creep and much more of coatings and surfaces according to ISO 14577-1 and ASTM E 2546.
For bulk material and coatings thinner than 1 μm (0.04 mils).
Dụng cụ thao tác mẫu
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Dụng cụ thao tác mẫu
Giá liên hệ
Proper positioning of specimens is a daily challenge inlab operations. The new securing devices for the hardnessmeasurement systems PICODENTOR® HM 500and FISCHERSCOPE® HM 2000 are important tools forsuch tasks.
Máy phân tích nguyên tố trên PCB và Wafer FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích nguyên tố trên PCB và Wafer FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
Giá liên hệ
FISCHER provides a comprehensive range of specific XRF instruments for coating thickness measurement and material analysis on printed circuit boards (PCB) and wafers.
Máy phân tích vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 315
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 315
Giá liên hệ
Cost-effective and compact entry-level X-Ray Fluorescence (XRF) Measuring Instrument for fast and non-destructive Analysis and Coating Thickness Measurement of Gold and Silver Alloys
Máy phân tích hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 220
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 220
Giá liên hệ
X-ray fluorescence measuring instrument for fast and non-destructive analysis of gold and silver alloys
Máy phân tích vật liệu đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Giá liên hệ
Universal high performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for fast and non-destructive material analysis and coating thickness measurement
Máy phân tích vật liệu tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with a programmable X/Y-stage and Z-axis for automated measurements of coating thicknesses and for material analysis
Máy phân tích nguyên tố tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích nguyên tố tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring system with a programmable XY-stage and Z-axis for automated measurements of very thin coatings and for trace analysis
Máy phân tích vật liệu trong môi trường chân không ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu trong môi trường chân không FISCHERSCOPE® X-RAY XUV® 773
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with vacuum chamber for non-destructive material analysis
Phần mềm phân tích vật liệu Software WinFTM®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Phần mềm phân tích vật liệu Software WinFTM®
Giá liên hệ
Software for all FISCHERSCOPE® X-RAY fluorescence measuring systems, runs under Windows®
Máy đo độ dày lớp phủ đồng trên linh kiện SR-SCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày lớp phủ đồng trên linh kiện SR-SCOPE® RMP30-S
Giá liên hệ
Handheld instrument for measuring copper layers on PCBs, non-destructive, fast, accurate, and without influence from opposing copper layers
Mô-đun đo đô dày màng hữu cơ BETASCOPE®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Mô-đun đo đô dày màng hữu cơ BETASCOPE®
Giá liên hệ
Measuring module for Benchtop unit MMS-PC2 for coating thickness measurement, comparing different materials acc. to the beta backscattering method, especially for the measurement of thin, organic coatings.
Máy đo độ dày lớp phủ để bàn COULOSCOPE® CMS
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày lớp phủ để bàn COULOSCOPE® CMS
Giá liên hệ
Benchtop unit for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates; of individual layers or multi-layers
Máy đo độ dày đa lớp phủ để bàn COULOSCOPE® CMS STEP
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày đa lớp phủ để bàn COULOSCOPE® CMS STEP
Giá liên hệ
Benchtop unit for the measurement of potential differences of multi-layer-systems, acc. to the STEP-test, as well as for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates, of individual layers or multi-layers.
Thiết bị đo lường chiều dày lớp phủ và vi cấu trúc 2,5D ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Thiết bị đo lường chiều dày lớp phủ và vi cấu trúc 2,5D & 3D FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI
Giá liên hệ
Hands-free X-Ray metrology solution for microstructure measurements of 2.5D and 3D wafer packaging applications.
1
2
3
4
