Tin mới (5)

Email: info@redstarvietnam.com
Bán hàng trực tuyến - Quý khách vui lòng gửi email về: info@redstarvietnam.com
Tư vấn kỹ thuật

Gửi mail tư vấn kỹ thuật: info@redstarvietnam.com

Sitemap

Đóng góp ý kiến

Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Giỏ hàng 0

Tổng : 0 đ

Trang chủ › Kết quả tìm kiếm

Tìm theo
Thương hiệu
- Benchmark Scientific
- ELE
- ELMA
- FORTUNA
- HITACHI
- HORIBA
- JEIO TECH
- SCP-Science
- SHIMPO
- Yasuda Seiki
Mức giá
Dưới 1 triệu

Xếp theo |

So sánh

Kính hiển vi điện tử truyền qua HF-3300
Liên hệ Tình trạng: Kiểm tra
Kính hiển vi điện tử truyền qua HF-3300 Giá liên hệ “The Cold FE-TEM” với độ phân giải siêu cao ổn định và các khả năng phân tích thế hệ mới!!

Sự kết hợp của nguồn phát điện tử trường lạnh có độ tin cậy cao và thế gia tốc 300kV của Hitachi hiện thực hóa khả năng tạo ảnh có độ phân giải siêu cao và phép phân tích nhạy cao. Độ phân giải không gian EELS*, chùm nhiễu xạ điện tử (diffraction*) nanobeam song song có độ chính xác cao và tạo ảnh SEM/STEM tại chỗ đã mở một con đường mới & độc nhất cho việc phân tích vật liệu độ chính xác cao.

Quan sát SEM/STEM của chất xúc tác Pt/C tại chỗ.

Khi bơm không khí vào vùng mẫu vật, các phản ứng giữa các hạt nano Pt và chất trợ bằng carbon xảy ra, dẫn đến hình thành các lỗ trên bề mặt carbon và các hạt nano chìm xuống (Bên trái: hình ảnh SEM, bên phải là hình ảnh ADF-STEM). Nhiệt độ mẫu: 2000C, áp suất khí trong mẫu 10Pa, tốc độ phát lại: 30x.

4