Nguy cơ bị nhiễm tạp chất kim loại đối với thực phẩm là khá phổ biến. Nguyên nhân có thể đến từ khâu thu gom nguyên liệu, chế biến, sản xuất, đóng gói, vận chuyển. Trong một số trường hợp, các loại tạp chất có kích thước rất nhỏ nên không thể phát hiện bằng mắt thường, bằng kính hiển vi quang học hay bằng các phương pháp phát hiện nhanh khác. Điều này đặt ra yêu cầu cần phải có phương pháp phát hiện và phân tích nâng cao.
Bài viết này sẽ trình bày một phương pháp phát hiện và phân tích nguyên tố đối với những chi tiết có kích thước vi sai, cung cấp kết quả trực quan về hình thái và chi tiết về thành phần nguyên tố. Ngoài ra, còn có thể so sánh tính chất hóa học dưới dạng ảnh phổ, hiển thị bản đồ phân bố nguyên tố của các vật chất hiện hữu trên mẫu vật. Đặc biệt, phương pháp này còn đảm bảo quy trình phân tích vô cùng đơn giản và có thời gian cho kết quả nhanh chóng. Đó là phương pháp SEM-EDX (hiển vi điện tử quét kết hợp phổ tán xạ năng lượng tia X).
Dưới đây là kết quả phân tích của một mẫu thực phẩm ở dạng bột bị nhiễm kim loại.
Bước 1: Mẫu vật được quan sát chi tiết dưới kính hiển vi điện tử quét (SEM). Ảnh dưới đây giúp phát hiện được sự hiện hữu của kim loại sắt (Fe) và sự tồn tại của thành muối (Salt) trong mẫu.
Bước 2: Sử dụng chức năng Mapping của hệ thống phổ tán xạ năng lượng tia X (EDX) để thể hiện bản đồ phân bố nguyên tố của các vật chất trên mẫu vật. Kết quả cho thấy có sự hiện hữu và phân bố của các nguyên tố như C, Cl, Na, Fe, Ni. Trong đó, Fe là tạp chất kim loại.
Bước 3: Sử dụng chức năng phân tích Point & ID để xác định và so sánh nguyên tố của tạp chất kim loại với vật chất cấu thành của mẫu thực phẩm. Hình ảnh dưới đây thể hiển ảnh phổ chồng để so sánh sự khác biệt về thành phần hóa học giữa tạp chất kim loại sắt (Fe) và thành phần muối (Salt).
Kính hiển vi điện tử quét để bàn (Tabletop SEM) Hitachi TM-3000 tích hợp đầu dò phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X Oxford SwiftED3000
Để được biết thông tin chi tiết về sản phẩm và ứng dụng, xin xem thêm tại đây.
Phòng Service Lab của chúng tôi được trang bị hệ thống Kính hiển vi điện tử quét để bàn (Tabletop SEM) Hitachi TM-3000 tích hợp đầu dò phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X Oxford SwiftED3000. Những khách hàng có quan tâm và dự định trang bị hệ thống SEM-EDX thì có thể liên hệ với chúng tôi để chụp thử mẫu. Qua đó, giúp có đủ thông tin thực tế để đánh giá chính xác về khả năng và phạm vi vận hành của thiết bị, đảm bảo phù hợp với yêu cầu sử dụng.
Qúy khách có thể liện hệ với chúng tôi theo thông tin liên lạc sau:
Email: info@redstarvietnam.com hoặc Hotline: 091-5567-885.
