Thiết bị SEM kết hợp EDX thu được ảnh bề mặt mẫu với độ phóng đại lên tới ~ X100.000 có thể quan sát được các yếu tố nhỏ hơn rất nhiều so với kính hiển vi quang học thông thường.

- Chụp ảnh với độ phóng đại và độ phân giải cao
- Phân tích định lượng thành phần nguyên tố tại điểm tùy chọn bằng kỹ thuật EDX
- Phân tích đặc tính hạt và khuyết tật trên bề mặt mẫu vật
- Khảo sát cấu trúc hạt và các khuyết tật dạng vết nứt
- Đo chiều dày lớp phủ bằng cách chụp ảnh mặt cắt

Dịch vụ phân tích cấu trúc và thành phần với ứng dụng cơ bản với SEM/EDX

- Phân tích đặc tính cấu trúc vật liệu
- Đánh giá sự phản ứng tại các lớp chuyển tiếp, dịch vụ môi trường và sự xuống cấp cơ học
- Phân tích đặc tính khuyết tật bề mặt, vết nhiễm bẩn trên kim loại, thủy tinh, gốm và polyme
- Đo chiều dày lớp vật liệu, lớp mạ, lớp phủ, màng mỏng bằng cách chụp ảnh mặt cắt
- Phân tích hạt, sự nhiễm bẩn bên trong vật liệu

Những ngành công nghiệp thường sử dụng thiết bị SEM/EDX:

- Hàng không
- Chế tạo ô tô
- Vật liệu
- Khai khoáng
- Gốm sứ, thủy tinh
- Thiết bị y tế
- Bán dẫn
- Điện tử
- Viễn thông
- Dược phẩm

Thiết bị phân tích của chúng tôi sử dụng trong dịch vụ phân tích cấu trúc và thành phần:

Bộ thiết bị sử dụng trong Dịch vụ phân tích cấu trúc và thành phần

- Kính hiển vi điện tử để bàn Hitachi TM4000/TM4000Plus 

- Kính hiển vi điện tử quét SU3500

- Hệ thống quang phổ tán xạ năng lượng QUANTAX 75

- Máy cắt mẫu dạng đĩa 650 CE 

- Máy cắt mẫu 875 D

- Máy đánh mài và đánh bóng mẫu 900 F

Khả năng phân tích của chúng tôi:

- Chụp ảnh SEM và phân tích EDX
- Độ phóng đại từ x5 – đến x300.000 lần
- Dải nguyên tố phân tích được: Boron (5) tới Californium (98)