Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : 0 đ
Trang chủ  /  Tin tức  /  Khoa học & Kỹ thuật
Quan sát mẫu đa lớp trong công tác quản lý chất lượng

Quan sát mẫu đa lớp trong công tác quản lý chất lượng

772 lượt - 13-06-2016, 1:32 pm
Phương pháp MỚI tạo ra quy trình thao tác hiệu quả, nhanh chóng và chính xác trong công tác quản lý chất lượng Kiểm soát chất lượng các lớp vật liệu trong mẫu nhựa và kim loại là công việc thường nhật trong ngành chế tạo linh kiện điện tử và ô-tô, quy trình này tốt khá nhiều thời gian với các thao tác và phải sử dụng máy móc khác nhau. Một phương pháp triển khai mới được kết hợp giữa thiết bị chuẩn bị mẫu đa năng Leica EM TXP và kính hiển vi quang học Leica ...

Xem chi tiết
  • Biểu diễn tính năng chụp xoắn chân ốc (Spiral) trên DVM6

    Biểu diễn tính năng chụp xoắn chân ốc (Spiral) trên DVM6
    Chức năng chụp xoắn chân ốc (Spiral) chụp nhiều ảnh nhỏ trên một mẫu vật (bắt đầu tại vị trí bệ mẫu được xác lập, rồi tiếp tục quét xoắn chân ốc), sau đó ghép các ảnh con đã chụp thành ảnh hoàn thiện.
    2593 lượt xem - 20-07-2016, 8:07 am
    Xem chi tiết
  • Biểu diễn chức năng quan sát và đo lường 3D trên DVM6

    Biểu diễn chức năng quan sát và đo lường 3D trên DVM6
    Chụp ảnh 3D với nhiều quy trình trình chiếu đa dạng Tạo ảnh 3D và video clip Thực hiện các phép đo lường và chú thích tùy biến
    2473 lượt xem - 20-07-2016, 8:07 am
    Xem chi tiết
  • Báo cáo mở: Kiểm tra bề mặt vật liệu khó một cách đơn giản

    Báo cáo mở: Kiểm tra bề mặt vật liệu khó một cách đơn giản
    Kiểm tra các lỗi trên bề mặt sản phẩm là một phần tất yếu trong công tác đảm bảo chất lượng và phân tích khuyết tật sản phẩm. Trong ngành công nghiệp sản xuất ô tô, các cán bộ phận tích luôn gặp khó khăn với các loại mẫu khó chụp nét bằng kính hiển vi, ví dụ như với loại linh kiện có thành phần vật liệu đặc biệt. Khi ảnh chụp hiển vi ...
    2584 lượt xem - 20-07-2016, 8:07 am
    Xem chi tiết
  • Chức năng đo độ dày lớp vật liệu của thiết bị phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X – HORIBA EMAXEvolution

    Chức năng đo độ dày lớp vật liệu của thiết bị phân tích phổ tán xạ năng lượng tia X – HORIBA EMAXEvolution
    LayerProbe là chức năng phần mềm có thể tính toán độ dầy và thành phần cấu tạo dựa vào mật độ tia X phát nhờ chùm điện tử bắn vào bề mặt mẫu. Mẫu không chỉ xử lý cắt mà còn đánh bóng bề mặt trước khi đưa vào đo kích thước bề dầy và thành phần của mỗi lớp.
    1363 lượt xem - 03-07-2015, 9:28 am
    Xem chi tiết
  • AFM làm việc như thế nào

    AFM làm việc như thế nào
    Kính hiển vi lực nguyên tử được cho là công nghệ kính hiển mạnh mẽ và linh hoạt nhất để nghiên cứu các mẫu ở kích thước nano. Tính chất linh hoạt thể hiện ở chỗ một kính hiển vi lực nguyên tử không chỉ cung cấp hình ảnh địa hình ba chiều của mẫu, nó còn cho phép thực hiện rất nhiều đo đạc bề mặt tùy theo nhu cầu của các nhà khoa học và ...
    3762 lượt xem - 03-06-2015, 3:56 pm
    Xem chi tiết