With the unique X-ray Guide Tube the bench top XGT-5200 systems allow convenient access to X-ray fluorescence analysis with high spatial resolution – from 1.2 mm down to 10 µm. There is no sample preparation or vacuum required – the object is simply placed in the sample chamber and analysed at normal atmospheric pressure. Fully integrated software controls sample movement, acquisition options and data analysis (including qualitative and quantitative analysis, and composite image generation). From when a sample is put in the chamber, just a few seconds are needed until an acquisition is started, aided by intuitive “point and click” selection of the analysis position.
The sample is visualised with coaxial geometry, so that parallax errors are removed. You have absolute confidence that where you see is where you sample.
Two X-ray guide tubes are provided in the instrument, allowing the user to simply switch between a micro and macro beams, so that a range of experiments can be accommodated. The high intensity beam delivered by these guide tubes ensures that acquisition times are kept to a minimum. The mono-capillary design of these guide tubes are ideally suited for high intensity element imaging, even of samples which are not perfectly flat.
XRF mapped images are easily obtained through automated sample scanning, and the provision of a second detector beneath the sample enables simultaneous acquisition of X-ray transmission images. The additional structural information provided by this technology is extremely useful for locating regions of interest, or interrogating a sample's internal structure.
Hệ thống XGT | |
Model độ nhạy cao (Độ phân giải không gian: 10 µm, 100 µm) | |
TYPE Ⅰ | - |
TYPE Ⅱ | O |
Loại tiêu chuẩn (Độ phân giải không gian: 100 µm) | |
TYPE Ⅰ | O (Có thể nâng cấp lên 10 µm) |
TYPE Ⅱ | - |
Đầu thu tia X truyền qua | |
TYPE Ⅰ | O* (Tùy chọn) |
TYPE Ⅱ | O |
*Hình ảnh tia X truyền qua được hiển thị trong quá trình lập bản đồ ngay cả khi đầu thu tia X không được cài đặt | |
Hình ảnh quang học | |
Toàn bộ hệ thống quan sát hình ảnh quang học của mẫu | |
TYPE Ⅰ | O (Tùy chọn) |
TYPE Ⅱ | O (X2-X16) |
Hệ thống quan sát đồng trục hình ảnh quang học được mở rộng | |
TYPE Ⅰ | O* *(X30) |
TYPE Ⅱ | O (X100) |
** "100X" khi thêm tùy chọn hệ thống quan sát hình ảnh quang học của toàn bộ mẫu | |
Cài đặt vị trí đo từ hình ảnh quang học | |
TYPE Ⅰ | O |
TYPE Ⅱ | O |
Thông số kỹ thuật của tất cả các model XGT-5200 | |
Ống phát tia X | 50 kV max, 1 mA, bia Rh |
Đầu dò Huỳnh quang tia X | Đầu dò Silic Drift Detector (SDD) làm lạnh bằng hiệu ứng Peltier |
Các nguyên tố được phát hiện | N tới U (với mẫu ở điều kiện áp suất thường) |
Dải năng lượng | 0 - 40 keV |
Diện tích đo tối đa / Kích thước mẫu tối đa | |
100 mm x 100 mm / 350 mm x 400 mm x 40 mm | |
OS | Windows XP |
Phần mềm | |
Chức năng phân tích định tính | Phân tích định tính tự động, phân tích đa điểm, So sánh phổ |
Chức năng phân tích định lượng | |
Định lượng FPM (không chuẩn, hiệu chuẩn 1 điểm), Định lượng đường cong hiệu chuẩn | |
Phân tích bản đồ | lập đồng thời bản đồ của hình ảnh tia X truyền qua và hình ảnh bản đồ nguyên tố, Màu Pseudo, Thành phần RGB, phân tích theo đường thẳng, tính toán liên ảnh, phân tích pha (tùy chọn), điều chỉnh độ tương phản), Thông tin vị trí phân tích từ hình ảnh truyền qua, Hiển thị hình ảnh huỳnh quang và hình ảnh quang học CRT, kết nối máy in |
Đầu ra | Xuất file, Xuất chuyển hóa dữ liệu (Tùy chọn)), Bố cục in (Tùy chọn) |
Cấp nguồn | AC100 V/ 50/60 Hz/ 1.3 kVA hoặc ít hơn |
Trọng lượng thiết bị | 280 kg |
Kích thước ngoài | 2110(W) X 1000(D) X 1350(H) mm |
Các thiết bị ngoại vi | |
Bơm chân không · Máy in màu · Ổ đĩa MO (Tùy chọn)) · Ổ đĩa CD-RW Drive · Màn hình LCD 17-in (tùy chọn)· Hệ thống chiếu sáng truyền qua (chọn thêm) |
Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.