Quan sát điện áp gia tốc thấp của các mẫu vật liệu khác nhau đã được chứng minh khả thi bằng SU3500. Hình.1 cho thấy kết quả quan sát của sợi quang (không phủ lớp phủ). Các hạt TiO2 (→) được quan sát rõ ở điện áp gia tốc 1,5 kV (Hình 1a), còn cấu trúc bề mặt mẫu không xuất hiện ở điện áp gia tốc 15 kV nên việc quan sát hạt TiO2 khó khăn ở điện áp gia tốc cao (Hình 1b).

Hình 2 cho thấy kết quả quan sát của viên kẹo. Ở điện áp gia tốc 1,5 kV, quan sát thấy các hạt tinh thể hình kim dễ bị biến dạng nhiệt bao phủ bề mặt mẫu mà không bị biến dạng (Hình 2a). Mặt khác, đầu của hạt tinh thể hình kim bị biến dạng bởi sự chiếu xạ của chùm tia điện tử ở điện áp gia tốc 3 kV (Hình 2b).

Hình 3 cho thấy kết quả quan sát mặt cắt ngang của tấm đồng được chế tạo bằng hệ thống phay ion IM4000. Độ tương phản tinh thể của cấu trúc kim loại được quan sát thấy trong hình ảnh có độ phóng đại thấp (Hình 3a), và các hạt tinh thể có hình dạng và kích thước khác nhau có chiều rộng khoảng 100nm được hiển thị bằng mũi tên được quan sát rõ ràng ở độ phóng đại cao hơn (Hình 3b).

Quan sát điện áp gia tốc thấp có thể áp dụng cho các ứng dụng quan sát khác nhau, chẳng hạn như quan sát bề mặt trên cùng của mẫu ở trạng thái chưa được xử lý, quan sát với ảnh hưởng của chùm tia thấp, quan sát độ tương phản tinh thể, v.v. Trong tương lai, có thể mong đợi nhiều ứng dụng khác nhau.

(a)Vacc.：1.5 kV、 Vacuum：20 Pa					(a)Observation of crystal contrast(Magnification：×1,000)					(a) Vacc.：1.5 kV
(b) Vacc.：15kV 、 Vacuum ：100 Pa  (Magnification：×1,000)					(b) Vacc.：3 kV (Magnification ：×10,000、SE image)					b)High magnification (Magnification：×5,000) (Vacc. ：1.5 kV、BSE image)
Fig.1 Observation of the photocatalytic fiber (non-coating)					Fig.2 Observation of tablet confectionery (non-coating)					Fig.3 Observation of cross section of metal member