Phần mềm phân loại phi kim Leica Steel Expert 2.0
|
||
Chất lượng sản phẩm là yếu tố sống còn. Chất lượng của thép phụ thuộc nhiều vào độ tinh khiết, vốn được xác định bởi một vài yếu tố, trong đó có hàm lượng tạp chất phi kim. Các tạp chất này phát triển khi tạo thành hợp kim hay trong quá trình sản xuất thép và sẽ ảnh hưởng đến hình dạng, độ bền mỏi và khả năng chống ăn mòn.
Leica Steel Expert 2.0 là lựa chọn tối ưu để đánh giá độ tinh khiết của thép nhằm mục đích đánh giá chất lượng, kiểm tra nguyên liệu đầu vào hay phân loại sản phẩm. Người dùng có thể học cách sử dụng phần mềm nhanh chóng và sau đó phân tích các tạp chất phi kim như các sulphides, ô-xit hay thậm chí là carbonitrides một cách đơn giản với độ tin cậy cao.
Ngoài việc phân tích các tạp chất phi kim thông thường theo các tiêu chuẩn như ASTM E45, DIN 50602, EN 10247 và ISO 4967 và các tiêu chuẩn dựa trên. Leica Steel Expert 2.0 còn có thể được sử dụng trong nghiên cứu và phát triển để xác định và phân tích các tạp chất hiển vi đến giới hạn của độ phân giải quang học.
Liên hệ với chúng tôi
info@redstarvietnam.com 091-5567-885 |
|
Các tiện ích
Đơn giản là nhanh hơnĐược tối ưu hóa để dễ sử dụng với giao diện người dùng trực quan và các hướng dẫn chi tiết để đi đến kết quả - không chỉ với các kính hiển vi tự động hóa hoàn toàn như Leica DM6000 M hay DMI5000 M, mà còn với các kính hiển vi thao tác bằng tay như Leica DM2700 M, DM4000 M LED hay DMI3000 M. Ngoài ra khả năng xử lý ảnh theo khối của Leica Steel Expert 2.0 cũng làm tăng đáng kể tốc độ xử lý. |
Các tiêu chuẩn mới nhấtLeica Steel Expert 2.0 tuân theo các phiên bản mới nhất của hầu hết các tiêu chuẩn lâu đời. Ngoài tiêu chuẩn cũ DIN 50602, nó còn hỗ trợ các tiêu chuẩn ASTM E45 (2011), ISO 4967 (2013) và EN 10247 với bản dự thảo được sửa đổi năm 2013. |
Phần mềm dạng moduleQuá trình phân tích không cần tuân theo các tiêu chuẩn quốc tế? Leica Steel Expert 2.0 có thể sử dụng các bộ tiêu chuẩn địa phương để đáp ứng yêu cầu riêng của khách hàng. Leica Steel Expert 2.0 có các module phần mềm thích hợp cho kính hiển vi thẳng đứng hay soi ngược với các mức độ tự động hóa khác nhau. |
Dễ dàng so sánhKết quả phân tích được thể hiện không phụ thuộc vào độ phóng đại. Giao diện đồ họa được tối ưu hóa để thể hiện kết quả một các dễ hiểu và có thể so sánh kết quả theo các tiêu chuẩn khác nhau. Các kết quả này được đặt song song nhau để dễ dàng so sánh. |
Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.