Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : 0 đ

Máy đo và phân tích bề mặt để sàn Bruker Dektak XTL

Model: Dektak XTL
Tình trạng: Liên hệ

Bảo hành: Chưa có thông tin bảo hành


Giá bán: Liên hệ




Đặt hàng
  • Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
  • Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
  • Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
  • Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
    Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.
Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com            Tất cả các ngày trong tuần

Máy đo và phân tích bề mặt của Bruker Dektak XTL ™ có thể chứa các mẫu lên đến 350mm x 350mm, mang tới công nghệ Dektak® cho việc sản xuất tấm panel và tấm wafer khổ lớn. Dektak XTL có tính năng chống rung bằng khí nén và một trạm làm việc khép kín hoàn toàn với cửa khóa liên động dễ dàng đóng mở, lý tưởng cho các môi trường sản xuất yêu cầu khắt khe ngày nay. Thiết kế camera kép cho phép nâng cao nhận thức về không gian và mức độ tự động hóa cao giúp tối đa hóa thông lượng sản xuất.

 

 Chức năng nổi bật

Phần mềm tự động hóa và phân tích tốt nhất trong ngành

 

Các tính năng phần mềm nâng cao giúp cho Dektak XTL trở thành thiết bị mạnh mẽ nhất, dễ sử dụng nhất hiện có. Hệ thống sử dụng phần mềm Vision64 cho phép các vị trí đo không giới hạn, lập bản đồ 3D và mô tả đặc tính được tùy chỉnh cao với hàng trăm công cụ phân tích tích hợp. Phần mềm Vision Microform cũng đo các hình dạng, chẳng hạn như bán kính cong. Nhận dạng mẫu giúp giảm thiểu lỗi của người vận hành và nâng cao độ chính xác của vị trí đo. Gói phần mềm tất cả trong một kết hợp thu thập và phân tích dữ liệu với một quy trình làm việc trực quan.

       

 

Giao diện Vision64


  

Người sử dụng nạp tấm wafer 300mm lên Dektak XTL.

       

 

Công nghệ bút Stylus vượt trội

 

Dektak XTL được thiết kế dựa trên hơn 50 năm chuyên môn về bút stylus và khả năng tùy chỉnh ứng dụng cho các cơ sở sản xuất, để đáp ứng các lộ trình nghiêm ngặt của ngành công nghiệp hiện nay và tương lai. Bệ mẫu XY được mã hóa với độ chính xác cao, dài 300 mm mang đến cho các nhà sản xuất một công cụ đáng tin cậy để đáp ứng các yêu cầu nghiêm ngặt về R&R. Camera kép của Dektak có độ phóng đại cao giúp nâng cao nhận thức về không gian. Định vị điểm và nhấp trong video trực tiếp cho phép người vận hành nhanh chóng đặt mẫu vào đúng vị trí để thiết lập đo lường và lập trình tự động hóa nhanh chóng và dễ dàng. Cửa lớn có khóa liên động dễ dàng đóng mở nhưng vẫn giữ an toàn cho việc nạp / dỡ mẫu.

 

Những chức năng khác bao gồm:

  • Kiến trúc vòm đơn và khả năng chống rung mang lại hiệu suất hàng đầu trong ngành
  • Dễ dàng thay đổi đầu bút Stylus
  • Bệ mẫu XY được mã hóa với độ chính xác cao để thu thập dữ liệu tự động nhanh hơn
  • N-Lite Low Force với công nghệ Soft Touch và phạm vi đo 1mm có thể được sử dụng đồng thời để đo các mẫu nhạy cảm và cần đo phương dọc

 

 

 

Kỹ thuật đo lường

Bút cảm ứng Stylus (Phương pháp tiếp xúc)

Chức năng đo lường

Chức năng đo lường biên dạng bề mặt 2D;

Chức năng đo lường và phân tích 3D

Quan sát mẫu

Camera quan sát bên: 2,5mm x 4,25mm;

Camera từ trên xuống: 11,5mm x 15,5mm

Cảm biến Stylus 

Low Inertia Sensor (LIS 3) với công nghệ N-Lite+ low force

Lực bút Stylus

0.03mg to 15mg

Tùy chọn bút Stylus

Tùy chọn bán kính đầu bút cảm ứng từ 50 nm đến 25 μm;

Các đầu bút tùy chỉnh có sẵn theo yêu cầu

Bệ mẫu X/Y

Bệ mẫu gắn động cơ X/Y 300mm

Bệ mẫu R-Theta

Bệ mẫu gắn động cơ, quay liên tục 360 độ;

Hệ thống máy tính

Bộ xử lý song song đa lõi 64-bit, Windows® 7.0;

Tùy chọn màn hình 23 inch 

Phần mềm

Phần mềm Vision64;

Chức năng: Stress Measurement; Microform; Stitching; 3D Mapping; Step Detection; Radial Mapping; Production Interface; Manual Pattern Recognition

Phần mềm tùy chọn

Automated Pattern Recognition;

Advanced Production Interface

Chống rung

Chống rung bằng khí nén, hiệu suất cao

Phạm vi quét

300mm

Điểm dữ liệu mỗi lần quét

Tối đa 120,000

Độ dày mẫu tối đa

50mm

Kích thước wafer tối đa

300 mm (8 in.)

Độ lặp lại

<5Å, 1 sigma trên bước 0.1μm

Phạm vi dọc

1 mm (0.039 in.)

Độ phân giải dọc

Tối đa 1Å (@ 6.55 μm range)

Nguồn điện đầu vào

100 – 240 VAC, 50 – 60Hz

Phạm vi nhiệt độ

Phạm vi vận hành, 20 tới 25°C (68 tới 77ºF)

Độ ẩm

≤80%, không ngưng tụ

Kích thước, khối lượng

978mm (38.5in.) W x 954mm (37.6in.) D x 1714mm (67.5in.) H;

272kg (600lbs)

Máy trạm

Tùy chọn

Tiêu chuẩn an toàn

CE, NRTL, S2, S8

  • Đánh giá sản phẩm:

(Xem mã khác)

Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.

Sản phẩm cùng danh mục