Các đặc tính thô của vật liệu từ tính (từ trễ, mất năng lượng, nhiễu từ, vv) được xác định bởi vi cấu trúc từ, như là bởi các đô-men từ và phản ứng với sự kích từ. Do đó, quan sát từ trường đóng vai trò quan trọng cho việc phát triển của vật liệu từ tính và nghiên cứu quá trình từ hóa.

Hệ thống kính hiển vi từ-quang Kerr và từ kế của evico là các thiết bị để quan sát đô-men từ và các quá trình từ hóa cũng như ghi lại các đường cong từ hóa trên tất cả các loại vật liệu từ, bao gồm các chất liệu rời rạc như tấm hoặc ruy băng, phim từ và phim đa lớp, có họa tiết hoặc dây micro và dây nano. Chúng là hệ thống đo lường bán tự động, không tiếp xúc, không tác động sử dụng hiệu ứng từ-quang Kerr (MOKE) làm cơ chế tương phản.

Hai hệ thống kính hiển vi dựa trên thấu kính Carl Zeiss: (i) Kính hiển vi tiêu chuẩn và (ii) Kính hiển vi kết hợp độ phân giải cao và tổng quan.

Kính hiển vi tiêu chuẩn là một thiết bị chắc chắn với thấu kính chất lượng cao, phù hợp với ảnh đô-men có độ phân giải cao với kích thước điểm giữa khoảng 100 µm và 5 mm và xuống đến độ phân giải tối đa của kính hiển vi quang học (300 nm). Hệ thống kính hiển vi kết hợp là sự kết hợp linh hoạt giữa 2 phiên bản của kính hiển vi gồm: (i) Phiên bản có độ phân giải thấp cho phép có được tổng quan về đường sức từ của các mẫu lớn với kích thước điểm thay đổi từ khoảng 30 x 30 mm đến 8 x 8 mm và (ii) kính hiển vi quang học có độ phân giải cao thu được kích thước điểm và khoảng phân giải tương tự như kính hiển vi chuẩn. Cả hai phiên bản được tích hợp trong cùng một thiết bị và sử dụng tùy mục đích.

Đối với tất cả các hệ thống kính hiển vi, khả năng xử lý hình ảnh được cung cấp để tăng cường độ tương phản. Từ trường vô hướng trong mặt phẳng có thể thu được hình ảnh. Cũng có các từ trường ngoài mặt phẳng. Các vòng từ hóa tại điểm được lựa chọn của bề mặt mẫu có thể ghi lại bằng phương pháp đo từ quang (MOKE-magnetometry), quan sát và ghi lại các hình ảnh đô-men tương ứng cùng một lúc.