Triển lãm SPIE Photonics West 2023
SAN FRANCISCO, California, ngày 31 tháng 1 năm 2023 – Tại Triển lãm SPIE Photonics West 2023, Bruker Corporation đã công bố ra mắt hai hệ thống giao thoa kế ánh sáng trắng (WLI): profiler quang học ContourX-1000 và NPFLEX-1000. Các thiết bị để sàn này cho phép đo kết cấu bề mặt và độ nhám bề mặt nhanh hơn, tự động hơn. Tính năng mới Advanced Find Surface với tính năng tự động lấy nét và tự động chiếu sáng giúp cải thiện trải nghiệm người dùng và thời gian cho kết quả, loại bỏ sự phức tạp của việc đăng ký bề mặt theo cách thủ công trước mỗi phép đo chỉ bằng một cú nhấp chuột. Kết hợp với chế độ đo tự điều chỉnh USI và giao diện VisionXpress vô cùng đơn giản và dễ sử dụng, khả năng độc đáo này cho phép phép đo thực hiện trên bất kỳ bề mặt nào với thông lượng được cải thiện.
ContourX-1000 có các công thức đo lường và phân tích tự động thân thiện với người vận hành, cung cấp phép đo chính xác nhất cho các nhà máy sản xuất trong xử lý chất bán dẫn và quang điện tử, phát triển công nghệ bao bì tiên tiến và sản xuất thiết bị y tế. NPFLEX-1000 có thiết kế giàn và đầu xoay lớn, có khả năng đo độc đáo, có thể thực hiện phép đo với những hướng khó khăn trên các bộ phận lớn trong QA/QC của việc gia công chính xác cho các ngành sản xuất phụ tùng ô tô, y tế và quy mô lớn.
| Don Cohen, Người sáng lập và Chủ tịch của Michigan Metrology cho biết: “Tôi đã sử dụng công nghệ đo và phân tích quang học của Bruker từ những năm 1980 và những hệ thống mới này là đỉnh cao tuyệt vời của hơn 30 năm phát triển. “Việc tích hợp khả năng tìm kiếm tiêu điểm tự động là một công cụ thay đổi cuộc chơi thực sự cho các phòng thí nghiệm đo lường, nơi tốc độ, sự dễ dàng của người vận hành và các phép đo có thể lặp lại là điều tối quan trọng.” |
Ông Don Cohen |
|||
|
Samuel Lesko, Giám đốc cấp cao kiêm Tổng giám đốc bộ phận Tribology, Stylus và Đo lường quang học của Bruker cho biết: “Các thiết bị đo và phân tích quang học của Bruker có lịch sử lâu đời về chức năng dẫn đầu ngành, kết quả cho ra nhanh chóng và đặc biệt dễ sử dụng. “Với các giải pháp WLI mới của chúng tôi, những khả năng đó còn được nâng cao hơn nữa, đặc biệt là đối với người dùng không chuyên có thể đạt được kết quả chất lượng trong vài giây so với vài phút trên các hệ thống thông thường.”
|
Ông Samuel Lesko |
|||
|
Model ContourX-1000 |
Giới thiệu thiết bị đo và phân tích quang học (profiler) 3D ContourX-1000
ContourX-1000 được thiết kế dành cho các ngành công nghiệp, kết hợp đầu nghiêng được cấp bằng sáng chế của Bruker, tham chiếu laser tự hiệu chỉnh, nhận dạng mẫu tích hợp và tính di động của công thức. Chế độ đo tự điều chỉnh Giao thoa kế quét toàn cầu (USI) sẽ tự động xác định các tham số đo tối ưu và giao diện VisionXpress đã được đơn giản hóa, mang lại chất lượng phân tích với mọi trình độ người dùng. Sự kết hợp độc đáo giữa phần cứng và phần mềm này mang lại thời gian nhanh nhất để đạt được kết quả đo lường tốt nhất, đồng thời mang lại độ ổn định tối đa và khả năng kết hợp cụ giữa R&D và sản xuất. |
|
Giới thiệu thiết bị đo và phân tích quang học (profiler) NPFLEX-1000
NPFLEX-1000 kết hợp tất cả các tính năng dễ sử dụng từ ContourX-1000 có hệ số hình dạng lớn và kiến trúc cầu chắc chắn. Hệ thống NPFLEX-1000 linh hoạt với đa dạng kích thước mẫu với khoảng trống 300 mm bên dưới thấu kính, đầu xoay và vật kính có khoảng cách làm việc siêu dài. Ngoài ra, việc phân tích bề mặt dốc cao được cải thiện đáng kể thông qua tùy chọn gương gập. Tính ứng dụng cực cao này cũng có thể sử dụng ở tốc độ đáng kính ngạc; các phép đo nhanh, tự động và phân tích đầy đủ trong vòng 10 giây sẽ là những cải tiến quan trọng về thông lượng cho môi trường sản xuất. |
|
|
*****************************************************************
Để được tư vấn và biết thêm thông tin chi tiết, xin vui lòng liên hệ:
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Email: thuy.le@redstarvietnam.com / info@redstarvietnam.com
Model NPFLEX-1000