Phân tích cỡ hạt trực tuyến và hình dạng trong thời gian thực với hình ảnh công nghệ PVM
ParticleView V19 với công nghệ Tầm nhìn và Đo lường hạt (Particle Vision and Measurement) là kính hiển vi video dựa trên thăm dò hình ảnh cho thấy các hạt và cơ chế hạt khi chúng đang tồn tại. Hình ảnh độ phân giải cao liên tục được chụp trong một phạm vi rộng các điều kiện xử lý mà không cần phải lấy mẫu hoặc phân tích ngoại tuyến. Một xu hướng quá trình, nhạy cảm với sự thay đổi kích thước hạt và nồng độ, được tự động kết hợp với những hình ảnh có liên quan nhất, cung cấp cho các nhà khoa học một phương pháp trực tiếp và đáng tin cậy để đảm bảo sự hiểu biết toàn diện có được với mọi thí nghiệm.
Nghiên cứu Kích thước hạt và Hình dạng - Hình ảnh độ phân giải cao của các hạt trong thời gian thực cho phép các nhà khoa học xác định được ảnh hưởng của các tham số quá trình về kích thước hạt và hình dạng. Hạt có thể được thiết kế để dự đoán các thông số quan trọng thay đổi trong quá trình phát triển, mở rộng quy mô và sản xuất.
Đặc trưng các sự kiện chuyển tiếp và các cơ chế tháo gỡ - Hạt và cấu trúc hạt thường thay đổi khi lấy mẫu. Bằng cách quan sát các tinh thể, các giọt nhỏ và các cấu trúc hạt tinh tế khác, các nhà khoa học có thể mô tả các sự kiện tạm thời và các cơ chế khó nắm bắt có thể là yếu tố quan trọng để tối ưu hóa chất lượng của một sản phẩm hoặc quy trình.
Điều tra các sự kiện quan trọng Sự kiện và sự tăng lên - Xu hướng dựa trên hình ảnh, nhạy cảm với kích thước hạt, hình dạng và nồng độ thay đổi, giúp các nhà khoa học xác định và sau đó điều tra các sự kiện quan trọng và sự rối loạn. Phương pháp nhanh và đáng tin cậy làm giảm thời gian và nỗ lực cần thiết để hiểu đầy đủ các hệ thống và quy trình hạt phức tạp.
Thực hiện các quyết định dựa trên bằng chứng với chi phí thấp hơn - Bằng cách hiển thị các hạt và cơ chế hạt trong đường thẳng, các nhà khoa học nhận được kiến thức nếu không sẽ chứng minh là quá khó khăn hoặc mất thời gian để có được. Kiến thức này hỗ trợ quá trình ra quyết định dựa trên bằng chứng và quá trình phát triển với chi phí thấp hơn.
| Probe Wetted Material | C22 alloy |
| Probe Window Material | Sapphire |
| Probe Wetted Temperature Range | -80 °C to 120 °C (purged);10 °C to 120 °C (standard) |
| Probe Back End Temperature Range | 0 °C – 40 °C |
| Probe Wetted Pressure Range | 0 barg to 10 barg (standard);up to 100 barg (custom) |
| For Use In | Laboratory: EasyMax, OptiMax or Larger |
| Software | iC PVM |
| Imaging System | Front Lasers: Backscattered images; Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector |
| Illumination | Internal light source;Front Lasers: 4;Back Lasers: 4 |
| Probe Window Seals | TM (standard, no o-rings) |
| Probe Diameter | 19 mm [0.75 in] |
| Probe Wetted Length | 400 mm [15.75 in] |
| Conduit Length | 2 m [6.6 ft] |
| Field of View | 1300 μm x 890 μm |
| Optical Resolution | > 2 μm |
| Image Resolution | 1500 x 1024 pixels |
| Weight (probe, interface unit and cables) | 1.45 kg [3.20 lb] |
| Air Requirements | Always use clean, dry instrument quality air or Nitrogen;Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM] |
| Power Requirements | Powered USB extender;100-240V (auto-switching), 50/60Hz, 0.3A |
| Mã đặt hàng | 14000031 |
Hiện tại chưa có ý kiến đánh giá nào về sản phẩm. Hãy là người đầu tiên chia sẻ cảm nhận của bạn.
