Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Giỏ hàng 0

Tổng : 0 đ

Trang chủ >> Thiết bị Phân tích >> Đặc tính bề mặt >> Thiết bị phân tích GD-OES

GD-PROFILER 2 Quang phổ phát xạ Plasma (ICP-OES)

Model: GD-PROFILER 2
Tình trạng: Liên hệ

Quang phổ phát xạ Plasma (ICP-OES) GD-PROFILER 2 phân tích nhanh, đồng thời của tất cả các nguyên tố, gồm khí nitơ, oxy, hydro và clo. Đây là công cụ lý tưởng để phân tích đặc tính màng mỏng (thin film characterization) và quá trình nghiên cứu.

Bảo hành: Chưa có thông tin bảo hành

Giá bán: Liên hệ

Đặt hàng

Khung giờ giao hàng từ 8h00 - 18h00 hàng ngày.
Sản phẩm chính hãng, cung cấp CO & CQ.
Bảo hành miễn phí 12 tháng với máy chính.
Giá trên chỉ áp dụng đối với mặt hàng có sẵn.
Đối với mặt hàng không có sẵn sẽ tính thêm phí vận chuyển.

Gửi email yêu cầu báo giá: info@redstarvietnam.com Tất cả các ngày trong tuần

Đặc tính nổi bật
Thông số kỹ thuật
Ứng dụng
Nhận xét

Dễ lắp đặt (không cần chân không cao UHV)
Tốc độ ăn mòn lên tới micromet/ phút
Phân tích các mẫu bán dẫn hoặc phi bán dẫn và mạ
Phân tích định lượng chiều sâu
Có thể đo tất cả các nguyên tố trong cùng 1 lần (bao gồm C, H, O, N và Cl)
Độ phân giải lớp nằm trong dải nm
Kiểu RF xung độc đáo có thể được áp dụng với các mẫu giòn và mạ.
Tuân thủ ISO 14707 và tiêu chuẩn 16962

Dải bước sóng: 110nm ~ 800nm
Có tới 47 kênh nguyên tố
Độ phân giải quang học:18 tới 25 pm đối với tất cả các nguyên tố.
Độ nhạy của RF-GD nằm trong dải 1017nguyên tử/cm2
Đối với các nguyên tố chính, độ chính xác điển hình là 0.4% và thời gian phân tích khoảng 90 giây.
HORIBA Scientific (Jobin Yvon Technology) cung cấp hiệu chuẩn cho cả phân tích mẫu khối và hồ sơ lớp (CDP) cho các hợp kim của Fe, Al, Cu, Ti, Ni, Co, Zn, Sn và Pb sử dụng vật liệu tham chiếu đã được chứng nhận và cung cấp các đường chuẩn theo yêu cầu cụ thể.