Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

Icons giỏ hàng Giỏ hàng 0
Tổng : đ
Trang chủ  /  Tin tức  /  Tin tức

Chuỗi hội thảo phân tích khuyết tật bằng kỹ thuật SEM kết hợp EDS & EBSD

454 lượt - 2021-06-29 10:09:38

 

 
 
Trân trọng kính mời Quý khách tham gia sự kiện trực tuyến sắp tới của chúng tôi:
 
Chuỗi hội thảo phân tích khuyết tật bằng kỹ thuật SEM kết hợp EDS & EBSD
 

 Hân hạnh mang đến bởi:

 
 
 
 

Ngày 8 tháng 7 năm 2021, Thứ Năm

(2pm – 4pm, UTC +8)

     Đăng ký tại đây     
 
    • Các kỹ thuật và bí quyết chuẩn bị mẫu trước khi phân tích SEM
    • Giới thiệu và minh hoạ về quá trình chuẩn bị mẫu bằng tia Ion và các công cụ chuẩn bị khác (bởi Quasi-S Pte Ltd)
 

Ngày 9 tháng 7 năm 2021, Thứ Sáu

(2pm – 4pm, UTC +8)

     Đăng ký tại đây     
 
    • Nguyên lý kính hiển vi điện tử quét và ứng dụng trong phân tích khiếm khuyết
    • Vận hành trực tiếp Hitachi SU3800 SEM với các thiết bị điện tử và mẫu vật liệu khác nhau (bởi Hitachi High-Tech Singapore Pte Ltd.)
 

Ngày 15 tháng năm 2021, Thứ Năm

(2pm – 4pm, UTC +8)

     Đăng ký tại đây     
 
    • Phân tích các linh kiện bán dẫn bằng hệ thống phổ tán xạ năng lượng tia X (Extreme EDS) và phổ nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược (Symmetry CMOS EBSD) (bởi chuyên gia của hãng Oxford Instruments)
 

Ngày 16 tháng 7 năm 2021, Thứ 6

(2pm – 4pm, UTC +8)

     Đăng ký tại đây     
 
    • Phân tích trực tiếp (live demo) điểm kết nối giữa các linh kiện đóng gói bằng đầu dò EDS & EBSD (bởi chuyên gia của hãng Oxford Instruments)
 
 
 
 
 
 
 
   **************************************************************************

 Để được tư vấn và biết thêm thông tin chi tiết, xin vui lòng liên hệ:

 Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam

 Email:  info@redstarvietnam.com

 URL:   www.redstarvietnam.com

Tin liên quan